OLTS-85/85P手持測試儀是業內針對Tier1級光纖驗證速和最易于使用的解決方案，是的SmartClassFiber家族一員，讓技術人員可以實施：
光纖長度測試
測量光纖損耗（雙光纖，雙波長）
檢查方向
檢查光纖端面
生成驗證報告
擁有SmartClassFiber，技術人員可以從這個功能強大和易于使用的解決方案中獲得的靈活性和出色的性能，這使得任何使用者立即成為光纖智能技術人員。OLTS-85/85P只要按一個鍵，就可實現測試，并使測試和驗證的時間減半，同時讓客戶對自己的網絡質量充滿信心。
優點
更快速的驗證網絡安裝，驗收一次完成。
按照工業標準執行復雜的Tier1光纖測試。
通過“PASS/FAIL”分析，消除主觀臆斷。
可控制本地和遠程主機優化了技術人員工作效率。
特點
完整的Tier1光纖測試，符合TIA/ISO/IEC標準。
專有多模（MM）、單模（SM）和四波長（MM/SM）版本。
本地和遠程單元均具備光纖端面檢查自動“PASS/FAIL”分析。
本地和遠程主機的測試結果均可存儲在本地主機上。
符合環形通量標準。
從休眠模式可即時激活。
大的存儲空間，主機上可存儲所有測試結果。
3.5英寸彩色觸摸屏。
結果輸出可通過USB接口，或直接連接PC，通過FiberChekPro報告軟件輸出。
電池工作時間可支持一整天。
幫助你的技術人員聰明的完成光纖測試工作！
一體化的光纖檢查和測試是一個有效的，并易于使用的解決方案，使光纖測試工作獲得的工作體驗。
自動化光纖端面檢查和Tier1損耗測試，可以給出“PASS/FAIL”分析結果，消除主觀臆斷。
將本地和遠程單元的測試結果、圖像和用戶信息直接存儲到本地設備上。
遵循實施流程，讓你按步驟直達正確的測試工作流程。
優化工作流程，節省測試時間
獲得的性能需要系統的和積極的方法，以便解決許多技術人員面臨的諸多麻煩，混亂和耗時的問題。OLTS-85為了克服這些障礙，將那些的測試工具集成，構成一個便攜的無縫系統，使測試工作變得快速簡單。
使用探頭式顯微鏡和跳線顯微鏡（PCM）幫助技術人員節省寶貴的時間，即可檢查光纖配線架又可光纖跳線。消除需要變換檢查適配頭的時間，使光纖檢查時間減半。
測試裝備可在本地和遠程任何一端控制，并可將結果存儲于任何一端。這消除了技術人員不斷地奔波于本地和遠端之間的時間。
休眠模式可節省寶貴的電池工作時間，此外，即時激活功能消除了那些耗時的需要其它設備配合的啟動時間。
次就正確完成測試工作
無論您是安裝和認證一個新的結構化布線，為您的客戶或管理您自己的公司現有的網絡；保持的做法是的，以確保您的光纖基礎設施可以支持您的數據中心或企業的需求。基于這個原因，OLTS-85設計的幾個自動化功能，使技術人員工作的更智能，更快速！
創建和存儲測試設置，包含所有相關設置，如光纖類型、光纜供應商、連接特性、參考方法和門限值設置，這些都可輕松回放。節省時間并確保一致的設置和結果。
輸入選擇鍵，引導客戶通過按照步驟處理測試任務，簡單快速并確保次就正確。
帶有“PASS/FAIL”分析的光纖端面檢查
位于的光纖網絡障礙是被污染的光纖連接器。針對這一故障，IEC組織頒布了關于光纖端面清潔度的質量標準 IEC-61300-3-35。這一標準被廣泛采用，并被收入另外的標準中，如TIA-568.3, ISO/IEC 11801。
沒有正確的認證工具，判斷光纖連接器符合相關標準和特性要求是困難且耗費時間的。然而，具備了SmartClassFiber測試工具這種挑戰就被化解了。無論你使用任何一個工業標準還是用戶自定義特性要求，OLTS-85都可輕松勝任！
無可異議的測試和驗證光纖端面工業標準。
自動化“PASS/FAIL”分析，消除主觀臆斷。
從本地或遠端快速獲得測試結果。
即時將本地和遠程結果存儲在本地設備上
整合測試結果進你的驗證報告。
技術參數
光功率計部分
| 參數 | |
| 光接口 | 可更換的適配器 LC/ PC, LC/APC (選項，2014系列適配器：SC，ST， FC，DIN，E2000，UPP 2.5 mm和UPP 1.25 mm) |
| 檢測器類型 | 銦鎵砷 InGaAs |
| 波長范圍/波長設置 | 800 到 1700 nm/ 1 nm 步長設置 |
| 校準波長 | 850, 980, 1300, 1310, 1490, 1550, 1625 nm |
| 功率范圍 | –75 to +15 dBm |
| 允許輸入功率 | +15 dBm |
| 測量不確定度① | ±0.13 dB (±3%) |
| 線性度 | 0.1 dB |
| 自動歸零 | 有 |
| 測量單位 | dB, dBm, Watt |
| 顯示分辨率 | 0.01 dB/0.0001 μW |
| 功能 | ，相對，pass/fai，自動波長（Auto -λ） |
| 預熱時間 | 無，即時 |
① 以下參考條件：在1310 nm ±1 nm，–20dBm (CW)，23°C ±3K, 9μm 測試光纖。
光源部分
| 參數 | 多模 | 單模 |
| 光接口 | 可更換的適配器FC/PC (選項，2155系列適配器：SC，ST和 LC) | 可更換的適配器SC/PC (選項，2155系列適配器：FC，ST和 LC) |
| 光源類型和波長 | LED | Fabry-Perot |
| 中心波長 | 850nm ± 20nm，1300nm ± 20nm | 1310nm ± 20nm，1550nm ± 20nm |
| 譜寬 | 50/170 nm | 5/5 nm |
| 發射條件 | 環形通量符合TIA-526-14 和 IEC 61280-4-1② | - |
| 輸出功率范圍（調節步長0.1dB） | –20到–23 dBm | 0到–3 dBm |
| 穩定度① 15分鐘/8小時 | ±0.02/0.2 dB | ±0.02/0.2 dB |
| 輸出模式 | 連續波CW，調制，自動波長（auto-λ），多波長multi-λ | |
| 調制波 | 270 Hz, 1 kHz, 2 kHz | |
① 在常溫，20分鐘預熱之后。
② 在輸出的參考線EF-TRC，在環形通量測量設備之間可能發生的變化，但環形通量符合可以預期的一個95%的置信區間。在850nm波長，針對 IEC 61280-4-1標準有效。
Tier 1部分
| 參數 | 多模 | 單模 | |
| 測試速度① | 遠程模式 | ＜6秒 | |
| 環回模式 | ≤3秒 | ||
| PASS/FAIL限制標準 | TIA 568.3， ISO 11801和ISO/IEC 14763-3，鏈路驗證 | ||
| 光纖類型 | 50/125μm 或62.5/125μm | 9/125μm | |
| 測試波長 | 850/1300 nm | 1310/1550 nm | |
| 長度測量 | 12 km | 100 km | |
| 長度測量精度② | ± 1.5 m ± 長度的1% | ||
| 損耗測量不確定度③ | <0.2 dB | ||
① 雙波長，單向，自動波長檢測（不包含參考和連接時間）。
② 對于多模光纖1km范圍，對于單模光纖10km范圍。
③ 20分鐘預熱后，常溫，未充電。對于多模光纖損耗測量使用50/125μm 光纖（數值孔徑NA=0.20）。對于單模光纖損耗測量使用9/125μm 光纖（數值孔徑NA=0.10）。
跳線顯微鏡（PCM）
| 參數 | ||
| 光接口 | FMAE LC雙纖 （選項，FMAE系列適配器均可用） | |
| 自動“PASS/FAIL”分析標準 | IEC 61300-3-35 和用戶自定義 | |
| 活動圖像 | 320 x 240 x 8 bit 灰色，10 fps | |
| 照明光源 | 藍色LED，100.000+ 小時壽命 | |
| 照明技術 | 同軸 | |
| 視場 | 高倍率 | 370×275μm |
| 低倍率 | 740×550μm | |
| 支持外部連接P5000i探頭式光纖顯微鏡 | ||
通用參數
| 參數 | OLTS-85 | OLTS-85P |
| 顯示 | 高對比度 3.5英寸彩色LCD，觸摸屏 | |
| 數據存儲 | 最多10.000損耗測試結果（>1000包含端面檢查結果） | |
| 數據讀出 | 通過客戶端USB接口 | |
| 電接口 | 2 x USB主機接口，1x micro USB, 以太網接口 | |
| 電源 | 12 V，2 A，含可互換的墻插接頭，含EU、UK、US、和 AU | |
| 電池 | Li-ion 鋰電池組，3.7 V，20 Wh （選項，8節5號NiMH電池或干電池） | |
| 電池工作時間（鋰電池組） | >12 小時 | |
| 建議校準周期 | 3 年 | |
| 尺寸（H x W x D） | 208 x 112 x 64 mm | 208 x 153 x 64 mm |
| 重量 | 750 g | 850 g |
| 操作溫度 | –5? 到 +45?C | |
| 存儲溫度 | –25?到 +55?C | |
訂貨信息
| 描述 | 部件編號 |
| 測試工作套裝（包括本地和遠端測試設備，攜帶包和測試參考跳線） | |
| 單模 tier 1 光損耗測試套裝 | 2325/31 |
| 多模 tier 1 光損耗測試套裝 | 2325/34 |
| 四波長（單多模）tier 1 光損耗測試套裝 | 2325/35 |
| 四波長（單多模）tier 1 光損耗測試套裝含跳線顯微鏡（PCM） | 2326/35 |
| 單獨的測試裝備（包含本地損耗測試設備，電池和充電器） | |
| 單模光損耗測試儀 | 2325/11S |
| 多模光損耗測試儀 | 2325/14S |
| 四波長（單多模）光損耗測試儀 | 2325/15S |
| 四波長（單多模）光損耗測試儀含跳線顯微鏡（PCM） | 2326/15S |
| 推薦附件 | |
| P5000i 數字檢查探頭（含4個檢查適配頭） | FBP-SD101 |
