7900 ICP-MS
Agilent 7900 ICP-MS 是一款靈活的四極桿質譜系統，可提供業界的檢測限、最寬的動態范圍和的氦氣碰撞模式。因此，您可以確保每次報告的數據的準確性，即使在痕量分析中也是如此。7900 ICP-MS 為商業和工業應用提供了的性能，并具有高級研究所需的靈活性。高靈敏度和瞬時信號的快速采集是納米顆粒、單細胞分析和激光剝蝕所必需的，讓您能夠在競爭中脫穎而出。
特性
的基質耐受能力 — Agilent 7900 ICP-MS 的穩定等離子體和超高基質進樣系統 (UHMI) 選件能夠對總溶解態固體 (TDS) 含量高達 25% 的樣品進行常規測量，其基質耐受能力比傳統 ICP-MS 高 100 倍，遠遠超出了其他任何 ICP-MS。
最寬的動態范圍 — 新型正交檢測器系統 (ODS) 可提供高達 11 個數量級的動態范圍，從亞 ppt 級到百分級濃度，用戶可在同一次運行中同時測量痕量與常量元素。
痕量物質檢測更勝 — 新型接口設計和優化的擴展級真空系統提高了離子傳輸效率，在 < 2% CeO 的條件下可提供 > 109
cps/ppm 的靈敏度，ODS 則可提高增益并降低背景，進而提高信噪比。
更快的瞬時信號分析 — 7900 ICP-MS 每秒可完成 10000 次獨立測量，可為瞬時信號的準確分析提供極短的積分時間。
的易用性 — 一代 ICP-MS MassHunter 軟件具有直觀的控制面板設計，可指導您完成每一步分析。只需簡單回答幾個應用相關的問題，或者對一個典型的樣品進行分析，創新的方法設置向導即可自動為您創建方法。您還可以使用遠程監控應用程序隨時隨地監測與控制您的 ICP-MS 儀器，增強了靈活性。
更高的分析效率 — 超高基質進樣系統 (UHMI) 技術結合了可選的集成進樣系統 (ISIS 3) 以及 ODS，可以在最寬的動態范圍內分析并定量幾乎任何樣品，避免了因超量程結果而不得不重新分析所耗費的額外時間及成本。
