UV2900系列采用動態(tài)反饋雙光束系統(tǒng)，由PC機控制的全自動掃描型高性能紫外可見分光光度計。
全新的光學(xué)系統(tǒng)和電路設(shè)計及光譜帶寬0.1-5.0nm連續(xù)可調(diào)及設(shè)定，確保儀器具有高分辨率、低雜散光、持久穩(wěn)定性和高信噪比并有強大的軟件功能，能滿足眾多高層次分析工作者的需求，如生物制藥、環(huán)境、科研等檢測系統(tǒng)。
特點
持久的穩(wěn)定性：動態(tài)反饋雙光束系統(tǒng)及電路保證了基線穩(wěn)定性，確保儀器長時間的穩(wěn)定。
超低的雜散光：極其優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng)、*的電子系統(tǒng)保證儀器雜散光≤0.015%T使高濃度樣品測試數(shù)據(jù)更準確。
該系列分為1nm版，8檔可調(diào)版，0.1-5.0nm連續(xù)可調(diào)版，以滿足各種樣品測試需要，也可自定義光譜帶寬數(shù)。
燈源更換簡單方便：采用進口插座式法蘭盤型氘燈和鎢燈，換燈時無需光路調(diào)試，維護更加簡便。
全PC機操作：配備UV-Solution3.0工作站軟件，操作方便，測試功能豐富。
三維圖譜的測量：對具有“動態(tài)變化”的樣品掃描圖譜進行三維圖譜的制作及分析。
功能
?光度測量：定波長條件下，對樣品的透過率T，吸光度A進行測量，可導(dǎo)出數(shù)據(jù)為Execl文件供用戶編輯。
?光譜掃描（波長掃描）：在有效波長范圍內(nèi)，可按0.1、0.5、1、2、5nm設(shè)定掃描間隔，對樣品的吸光度A、透過率或者能量進行掃描，并對圖譜進行數(shù)據(jù)處理，如圖譜縮放、平滑、四則運算、坐標調(diào)整、峰/谷自動檢測、1~4階導(dǎo)數(shù)光譜等，可打印記錄為標準報表，可導(dǎo)出數(shù)據(jù)為Execl文件供用戶編輯，可導(dǎo)出圖譜為bmp圖片文件。
?時間掃描（動力學(xué)測試）：在特定波長下對樣品的吸光度A或透過率T進行時間掃描，采樣時間間隔有0.2、0.5、1.0、2.0、5.0秒可選擇。可打印記錄為標準報表，可導(dǎo)出數(shù)據(jù)為Execl文件供用戶編輯，可導(dǎo)出圖譜為bmp圖片文件。
?定量測量：可進行直線、二次曲線、三階曲線、折線等標準曲線及設(shè)定曲線參數(shù)測試，最多可建立15個標樣點的標準曲線，可選擇單波長，雙波長或三波長下測量，可導(dǎo)出數(shù)據(jù)為Execl文件供用戶編輯。
UV2900系列技術(shù)參數(shù) | |||
型 號 | UV2900 (1nm版) | UV2900 (8檔可調(diào)版) | UV2900 (0.1-5.0nm連續(xù)可調(diào)版) |
光學(xué)系統(tǒng) | 雙光束 | ||
光譜帶寬 | 1nm | 0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、3.0、4.0、5.0nm | 0.1-5.0nm連續(xù)可調(diào) |
波長范圍 | 190～900nm | ||
波長允許誤差 | ±0.3nm | ||
波長重復(fù)性 | ≤0.1nm | ||
光度范圍 | T:0～999.9%T A: -4.0～4.0 Abs | ||
透射比允許誤差 | ±0.3%T | ||
透射比重復(fù)性 | ≤0.1%T | ||
雜散光 | ≤0.015%T（220nmNal; 360nmNaNO2） | ||
穩(wěn)定性/噪聲 | ±0.0004 Abs | ||
基線平直度 | ±0.001 Abs | ||
基線漂移 | ≤±0.0004 A/h (500nm處，預(yù)熱2h后) | ||
外形尺寸 | 600×505×240mm | ||
