Dimension FastScan® 原子力顯微鏡 （AFM） 系統經過專門設計，在不降低分辨率、不失去力控制、不增加設備復雜性，不帶來繁瑣操作的前提下，即可實現快速掃描。使用 FastScan，您可以即時快速地獲得 AFM 圖像，實現高性能 AFM 的預期高分辨率。無論您是以 >125Hz 掃描樣品表面尋找查找感興趣的區域時，或是在氣相或流體中以每秒 1 秒的速率采集AFM圖像，都能用FastScan得到優異的高分辨圖像。Dimension FastScan這一變革性技術重新定義了 AFM 儀器的使用體驗。
高速、高分辨率原子力顯微鏡的
Dimension FastScan 是個也是一個高速針尖掃描原子力顯微鏡系統。Dimension FastScan 能在各種尺寸的樣品上實現高達每秒一幀的掃描速率，而不犧牲分辨率或任何儀器性能。結合 峰值力®輕敲模式，Dimension FastScan 使用線性控制回路實現了實時的力測量，從而在各種剛度的樣品表面上，無論是堅硬平滑的晶體表面還是柔軟粗糙的聚合物表面上，都能獲得高分辨的形貌及力學性能。
的生產力
Dimension FastScan 的每個方面（包括開放的大樣品臺設計和預先優化的軟件設置）都經過專門設計，實現極其簡易的操作。快速找尋樣品、快速進針、快速掃描、低噪音、極低的漂移速率（低至200 pm每分鐘）、擴展性的直觀用戶界面，再與的 Dimension 大樣品臺相結合，Dimension FastScan為操作者提供了全新的AFM使用體驗，更快地得到可供發表的數據。無須經過繁復的調整和優化，Dimension FastScan的 用戶可以立即獲得高質量的結果。
用AFM拓展您的應用
憑借一整套出色的AFM成像模式，布魯克能為您每項研究提供適用的 AFM 技術。
基于核心成像模式（接觸模式和輕敲模式），布魯克提供的全套 AFM測試模式，允許用戶探測樣品的電學、磁性等豐富性能。布魯克的全新的峰值力輕敲技術作為一種新的核心成像模式，已被應用到多種測量模式中，能同時提供形貌、電學和力學性能數據。
