Phenom GSRqiang擊殘留物臺(tái)式掃描電鏡在qiangzhi事件中，qiangzhi殘留物 GSR 的分析將發(fā)揮重要的作用。GSR 分析技術(shù)首先基于掃描電子顯微鏡 （SEM） 的背散射成像，用來掃描樣品和發(fā)現(xiàn)可疑的 “GSR” 顆粒。一旦發(fā)現(xiàn)可疑的顆粒，使用能譜（EDS）識(shí)別在該粒子中的元素。 常見的搜索元素為 Pb，Sb 和 Ba。無鉛底火的檢測(cè)，例如 Ti 和 Zn 也可 為搜索條件進(jìn)行搜索。
Phenom GSRqiang擊殘留物臺(tái)式掃描電鏡自動(dòng)qiangzhi殘留物分析是*在臺(tái)式掃描電鏡運(yùn)行自動(dòng)qiangzhi殘留物分析軟件。其設(shè)計(jì)基于飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL。軟件和硬件一體化，以提高用戶操作界面友好性，可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三個(gè)項(xiàng)目：自動(dòng)槍擊殘留物分析和分類軟件包，BSED 和 EDS 探頭內(nèi)部集成，校準(zhǔn)試樣。
Phenom GSR自動(dòng)qiangzhi殘留物分析配備 CeB6 燈絲，使其穩(wěn)定運(yùn)行，燈絲壽命不低于 1500 個(gè)小時(shí)，從可用性，適用性和運(yùn)行時(shí)間的角度來看都非常理想。小于 1 分鐘的加載時(shí)間，和快速的全自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)，使得飛納 GSR 成為高度自動(dòng)化應(yīng)用的理想工具，可以用來進(jìn)行自動(dòng)qiang擊殘留物分析。
| Phenom GSR | |
| 光學(xué)放大 | 3 - 16 X |
| 電子光學(xué)放大 | 80 - 100,000 X |
| 分辨率 | 優(yōu)于 20 nm |
| 數(shù)字放大 | Max. 12 X |
| 光學(xué)導(dǎo)航相機(jī) | 彩色 |
| 加速電壓 | 4.8 Kv - 20.5 Kv 連續(xù)可調(diào) |
| 真空模式 | 高分辨率模式 |
| 降低核電效應(yīng)模式 | |
| 高真空模式 | |
| 探測(cè)器 | 背散射電子探測(cè)器 |
| 二次電子探測(cè)器 (選配) | |
| 樣品尺寸 | 大 100 mm X 100 mm |
| 可同時(shí)裝載 36 個(gè) 0.5 英寸樣品臺(tái) | |
| 樣品高度 | 高 65 mm，樣品高度全自動(dòng)調(diào)節(jié) |
