| 光電器件高低溫箱，頻率元件老化箱，電聲器件失效分析機控制系統 |
| | | * Q8-901 溫濕度控制器（韓國*） | | 高分辨?彩色觸摸屏接口 | | 交互式參數輸入方式 | | 支持韓文，英文，中文 | | 提供內置SMPS的I/O RELAY BOARD-接線簡化和節省成本 | | 同時支持干濕球方式及電子濕度傳感器 | | 基于PC的方便監控 | | 方便設定多達33種的輸出（內置計時器）方式 | | 支持利用UDC300（選項）的USB存儲器-可代替記錄器 | | 內置基于*的PID算法的自動調諧功能 | | 提供強有力的通訊環境和支持99臺多分支結構 | | 的Fuzzy功能和ARW啟動-抑制超程 | | 顯示PV曲線（0~8天） |
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| 光電器件高低溫箱，頻率元件老化箱，電聲器件失效分析機規范條件 |
| 執行標準.中國國家標準分為強制性國標（GB）和推薦性國標（GB/T）
中國國家標準,GB 10586-89濕熱試驗箱技術條件
中國國家標準,GB 10592-89高、低溫試驗箱技術條件
中國國家標準,GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件
重慶高低溫試驗箱
滿足標準
電工委員會標準,IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩態濕熱
電工委員會標準,IEC68-2-01_試驗方法A_冷
電工委員會標準,IEC68-2-02_試驗方法B_干熱
美用標準,MIL-STD-810F-507.4 濕度
美用標準,MIL-STD-810F-501.4 高溫
美用標準,MIL-STD-810F-502.4 低溫
美用標準,MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環試驗
美用標準,MIL-STD810D方法502.2
美用標準,MIL-STD810方法507.2程序3
重慶高低溫試驗箱
日本工業標準,JIS C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩態
日本工業標準,JIS C60068-2-2-1995 試驗B:干熱
日本工業標準,JIS C60068-2-1-1995 試驗A:低溫
美國半導體行業標準,JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗
美國半導體行業標準,JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗
美國半導體行業標準,JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗
重慶高低溫試驗箱
中國國家標準,GB/T 2423.1-2001 低溫
中國國家標準,GB/T 2423.2-2001 高溫
中國國家標準,GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法
中國國家標準,GB2423.34-86 溫濕度組合循環試驗
中國國家標準,GB/T2423.4-93方法
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中國國家環境試驗設備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗 |
| ◇型號規格及主要技術參數 | | 型號 | PSL-80U | PSL-150U | PSL-225U | PSL-408U | PSL-800U | PSL-1000U | | 溫度范圍 | R:-20℃～++150℃,L:-40℃～+150℃, U:-60℃～+150℃,S:-70℃～+150℃ | | 濕度范圍 | 20%～98R.H | | 溫度精度 | ±0.3℃ | | 濕度精度 | ±2.5%R.H | | 溫度均勻度 | ±0.5℃ | | 升溫時間 | -20℃～+100℃約需35min -40℃～+100℃約需40min -70℃～+100℃約需60min | | 降溫時間 | +20℃～-20℃約需45min +20℃～-40℃約需60min +20℃～-70℃約需90min | | 內箱尺寸 | 400×500
×400 | 500×600
×500 | 500×750
×600 | 600×850
×800 | 1000×1000
×800 | 1000×1000
×1000 | | 外箱尺寸 | 880×1650
×920 | 1000×1500
×1000 | 1100×1600
×1100 | 1200×1700
×1300 | 1500×1850
×1400 | 1500×1850
×1520 | | 內箱材質 | SUS304#不銹鋼鏡面板 | | 外箱材質 | 不銹鋼霧面拉絲板或烤漆噴塑 | | 保溫材質 | 硬質發泡膠（當高溫為150℃時采用玻璃棉） | | 冷凍系統 | 全封閉壓縮機 | | 配件 | 觀察窗,上下間距可調隔層2片,測試孔Ø50mm一個,箱內照明燈 | | 重量 | 200 | 300 | 400 | 450 | 550 | 600 | | 電源 | AC220V 50Hz | AC380C 50H |
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