Dimension Icon 原子力顯微鏡 (AFM)的性能、功能及附件等方面具有全新表現,在聚合物、半導體、能源、數據存儲及材料領域的納米研究中將會得到廣泛應用。Dimension Icon 是 Dimension 系列產品中的新款設備 。這個系統經過從上到下的設計,在易用性、高分辨率及快速 成像等方面有突出表現。
Dimension? Icon? 優秀的圖像分辨率,與 Bruker 的電子掃描算法相結合,顯著提升了測量速度與質量。Dimension? 系列大樣品臺原子力顯微鏡始終處于行業優秀地位,Dimension? Icon?是針尖掃描技術的又一次革新,配置溫度補償位置傳感器,實現了 Z 軸亞埃級和 XY 軸埃級的低噪音水平,將其應用在 90 微米掃描范圍的大樣品臺體系上,效果甚至優于高分辨小樣品臺 AFM的開環噪音水平。全新設計的 XYZ 閉環掃描頭,即使在較高的掃描速度工作時,也不會損壞圖像質量,實現了更大的數據采集輸出量。