Nanolink SZ902系列納米粒度分析儀是繼在SZ901系列納米粒度分析儀后推出的全新一款高性能動態(tài)光散射納米粒度儀產(chǎn)品，加持了真理光學研發(fā)的全自動聚焦技術，實現(xiàn)了對納米樣品的多角度測量，無需稀釋即可對不同濃度納米樣品的粒度及Zeta電位快速測量，十分適合各種有機或無機納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質等多種樣品的粒度及Zeta電位研究級分析測試。
Nanolink SZ902納米粒度分析儀的杰出性能和主要特點包括：
◆包含經(jīng)典90°、背向和前向動態(tài)光散射技術測量粒徑，測量范圍覆蓋0.3nm–15μm*
◆激光多普勒電泳技術用于Zeta電位分析，可準確預知分散體系的穩(wěn)定性及顆粒團聚的傾向性
◆加持自動恒溫技術的功率可達50mW,波長638nm的固體激光光源，儀器即開即用
◆的余弦擬合相位分析法（CF-PALS）優(yōu)于目前的頻譜分析法（FFT）和傳統(tǒng)的位相分析法（PALS）
◆的激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術
◆的信號光與參考光的光纖合束及干涉技術
◆集成光纖技術的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測器
◆常規(guī)溫度控制范圍可達-15°C~120°C,精度±0.1°C
◆新一代高速數(shù)字相關器，動態(tài)范圍大于10¹¹
◆冷凝控制–干燥氣體吹掃技術
| 測量原理 | 動態(tài)光散射（DLS）、靜態(tài)光散射（SLS）、電泳光散射（ELS） |
| 粒徑測量角度 | 90°,173°（高濃度），12°（Zeta電位） |
| 粒徑測量范圍 | 0.3nm -15um* |
| 粒徑測量最小樣品量 | 3ul* |
| 粒徑測量最小樣品濃度 | 0.1mg/ml |
| 粒徑測量樣品濃度 | 40%/wv |
| 檢測點位置 | 距入射點0~5mm可調 |
| 檢測點定位精度 | 0.01mm |
| Zeta電位技術 | 余弦擬合位相分析法（CF-PALS） |
| 適用Zeta電位測量的粒徑 | 任意范圍，無明確限制 |
| 遷移率范圍 | 1nm - 120μm* |
| 電導率 | 270mS/cm |
| 電導率準確度 | ±10% |
| 電極 | 插入式平板電極、U型毛細管電極 |
| 分子量范圍 | 340Da - 2x107Da |
| 溫度控制范圍 | -15°C - 120°C |
| 溫度控制精度 | ±0.1°C |
| 光源 | 集成恒溫系統(tǒng)及光纖耦合的功率50mW, 波長638nm固體激光器 |
| 相關器 | 高速數(shù)字相關器，自適應通道配置 |
| 檢測器 | 高靈敏度APD |
| 樣品池 | 12mm比色皿、3μL毛細管超微量樣品池、40μL微量樣品池（多種可選） |
| 系統(tǒng)重量 | 16kg |
| 外形尺寸 | 365mm x 475mm x 180mm (LxWxH) |
注：* 取決于樣品及樣品池選件
