- 可以檢查薄膜的面內薄膜厚度不均等
- 可以高速,高精度地測量整個表面
- 只能由專門從事膜厚測量的制造商提供的**支持
- 通過分光光度法進行高精度的膜厚測定
- 硬件和軟件的原始設計
- 產品信息
- 規格
- 測量例

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