Wafer晶圓表面顆粒缺陷檢查燈UV-85
UV-85Y高照度晶圓LED檢查燈；晶圓顆粒缺陷檢查燈；Wafer表面檢查燈
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈UV-85系列是一款黃綠光表面檢查燈（或者是白光），檢測燈的原理利用適合的LED燈源，通過光學鏡片折射出特殊波長的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作員肉眼可識別出工件表面的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵點，取代傳統的照明設備和光學系統機臺，直接通過照明光線和肉眼，觀測出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵，極大的節省了一般工廠的采購成本。UV-85-Y黃綠光檢查燈采用人眼最敏感510-590NM之間波長光，來做與明確的判別，可精確檢查到1um以下的刮痕或微粒子，并且具有綠光和黃光2種顏色的復合光，幾乎可檢測出所有塵埃，大大降低產品不良率。使用壽命為2萬小時以上。光源強度可達15萬LX，最小可以檢測1μ的表面臟污，比傳統的檢查燈，效用增強10倍.。（注意：UV-85系列檢查燈的亮度只有15萬LX ;如果有更高的測試要求請使用UV-89和UV-86系列的檢查燈，UV-86亮度有30萬LX,UV-89的亮度是40萬LX）(底部有視頻講解)。
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈UV-85參數規格
型號：UV-85Y高照度晶圓LED檢查燈；晶圓顆粒缺陷檢查燈；Wafer表面檢查燈
光 源：20W 高亮度進口LED加定制的光學鏡片； LED平均壽命是30000小時
照度：距離40cm → 9萬lx；距離30cm → 15萬 lx（我們掌握了核心技術，我們可以提供不同照度的平行燈，它們可滿足不同客戶的要求）
照射面積： 8-16cm直徑的光圈 在40cm的距離（通過調焦距調光）
調光方式： 無極調光：從0% ~ 99%；消耗功率：20 W
電源：采用110-220V電源供電（交流供電），可以24小時持續無間斷工作。
平行光強的穩定性： > 90 ％
產品尺寸：53 * 220mm; 凈重： 0.53KG(不含配件
| 產品型號 | UV-85-W白光晶圓檢查燈 | UV-85-Y黃綠光晶圓檢查燈 | 備注 |
| LED的數量和規格 | 1個進口20W 6000K LED 加定制的光學透鏡和定制濾光片 | 可以按照客戶的要求定制 | |
| 通常6000K白光，510-590NM黃綠光；有特殊要求的可以定制365NM;455NM;595NM;625NM的波長 | |||
| 檢查燈的波長 | 6000K 白光 | 510-600NM黃綠光 | |
| 檢查燈的亮度 | 8萬LX→距離40cm； 15萬LX→距離30cm； | 9萬LX→距離40cm； 15萬LX→距離30cm； | |
| 我們掌握了核心技術，我們可以 提供不同照度的檢查燈，它們可滿足不同客戶的要求 | |||
| 照射面積（單位MM） | ? 8- 16cm 在40cm的距離 | ||
| 調光方式 | 無極調光：通過調光器0-99%調光； | ||
| 使用壽命 | 30000小時 | ||
| 尺寸和凈重 | 53 *220mm; 凈量：1180克不包含配件 | ||
| 可選配件 | 防護眼鏡 | ||
UV-85晶圓顆粒wafer缺陷檢查燈特點
1.1個大功率20W LED,.真正冷光源，亮度達到15萬LX;照度相當100瓦的汞燈
2.LED使用壽命高達3萬個小時;壽命是汞燈的10倍
3.使用定制的光學透鏡和濾光片，檢查燈的均勻性能達到90%以上；
產品的光均勻性及光斑大小，經檢測證實效果要優于日、德同類產品。
4.發黃綠光和白光，人眼易感知且又不傷眼，可精確檢查到10um以下的刮痕或微粒子；
5. 合理的外觀設計，，能提供均勻且高亮度特殊波長和色溫的檢查光源；
6：可選擇不同波段光源：365NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意選擇其中的一種波；
白光：刮傷以及對不同層次的鍍膜均勻或微污染有很好的效果。
綠光：微刮傷、粉塵異物、液晶玻璃，70%以上的表面不良都可以被檢出。尤其是表面的微刮傷。
黃光：微刻模具、半導體晶圓、藍寶石。對鍍膜檢查效果不錯。
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈UV-85應用
LCD濾光片、偏光板、晶圓、半導體、 玻璃或金屬表面刮痕及灰塵檢查、 液晶玻璃、微刻模具、半導體晶圓、藍寶石
