SWY916D介質(zhì)損耗測試裝置與SWY2851D、SWY2852D、SWY2853D Q表及電感器配用，能對絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
本測試裝置是由測微平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)變化通過公式計算得到。同樣，由平板電容器的刻度讀數(shù)變化，通過公式計算得到介電常數(shù)。
1工作特性
1.1 平板電容器：
1.1.1 極片尺寸：
SWY916D-38：Φ38mm.
SWY916D-50：Φ50mm.
1.1.2 極片間距可調(diào)范圍和分辨率：
≥8mm， ±0.002mm
1.2 夾具插頭間距：
25mm±1mm
1.3夾具損耗角正切值
≤2.5×10-4
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