微米/納米熱傳導測量系統采用SanjSCOPE™ 納秒瞬態熱成像儀和鎖相鎖定熱反射 (TR) 系統，實現器件納米或微米尺度傳熱成像。
微米/納米熱傳導測量系統在可見光波段進行了優化，具有衍射限制的空間分辨率。光譜范圍達到365nm~1050nm，瞬態響應為 50ns。這種寬光譜范圍支持基于鎖相鎖定熱反射 (TR) 成像，用于對各種*設備進行熱分析。
微米/納米熱傳導測量系統應用背景
NUV 覆蓋范圍對于 GaN 和其他寬帶隙器件的熱分析尤為重要。憑借亞微米空間分辨率,50ns瞬態分辨率以及對 TransientCAL™ 和 HyperSpectral 校準的支持，微米/納米熱傳導測量系統系統將滿足的電子和光電設備的熱成像要求?？蛇x的 IR 傳感器可用于進行宏觀分析，以檢測非常低的功率水平，并能夠在微觀尺度上歸零，以便對檢測到的熱點或其他熱異常進行更詳細的分析。
微米/納米熱傳導測量系統規格參數
產品類型: 脈沖激光熱成像分析儀器
瞬態分辨率: 脈寬800 ps (FWHM)
成像傳感器: EMCCD
光譜范圍: 480nm~1060nm
有效像素: 1024 x 1024
像素尺寸: 13微米
空間分辨率
380 nm (@100x, 0.7 NA, 532 nm照明)
760 nm (@100x, 0.7 NA, 1060 nm照明)
NETD: 1000 mK
照明光源: 脈沖二極管激光器 532 nm, 1060 nm
可選物鏡: 5x, 20x, 100x