貴金屬檢測儀XF-A5S plus
XF-A5S Plus貴金屬成分無損檢測儀是西凡儀器面向貴金屬成分無損檢測的一款X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于珠寶首飾工廠以及回收等行業和單位。該產品采用目前的進口定制Fast-SDD探測器，內置四核CPU工控電腦，采用全新的垂直光路。檢測速度快，測試穩定性好、準確性高，性價比。
產品介紹及展示
產品特點
元素檢測范圍：鉀(9)～鈾(No.92) 可支持最多30個元素同時計算
分析范圍：0.01%～99.99% 檢測精度：±0.01%(999金)
檢測樣品：固體/液體/粉末
定制TCP/IP協議API接口，支持外網對設備的控制、狀態監控及數據采集
支持多點連續測試，測試效率高
內置ARM四核XRF專用電腦+Linux內核，無懼木馬和病毒軟件
選裝10工位轉盤，自動連續測試10個樣品
核心部件
探測器：AMPTEK定制版Fast-SDD探測器 內置工控電腦：NXP IMX8四核Cortex-A53 XRF專用電腦
高壓電源：50KV/1mA數字高壓電源 X射線管：50KV/1mA
窗口材料：玻璃窗 靶材：鎢
焦點：? 0.5mm 準直器：?1mm
產品規格
輸入電壓：AC100～240V，50Hz 產品包裝尺寸：565mmx535mmx500mm
產品尺寸：450mmx422mmx378mm 樣品艙尺寸：366mmx336mmx141mm
額定功率：<150W 毛重：49KG
凈重：37KG 噪音：50dB
使用環境：溫度：15℃～31℃
濕度：<70%（不結露）
產品尺寸：450mmx422mmx378mm 樣品艙尺寸：366mmx336mmx141mm
額定功率：<150W 毛重：49KG
凈重：37KG 噪音：50dB
使用環境：溫度：15℃～31℃
濕度：<70%（不結露）
選擇貴金屬檢測儀XF-A5S plus的四大理由
無損檢測
1、貴金屬的稀缺與寶貴，讓灰吹法等傳統的破壞性檢測方法越來越不適用，市場上迫切需要一種快速、準確、無損的檢測方法，而X射線熒光光譜法無非是很好的貴金屬無損檢測方法。
規避交易風險
2、社會上金銀首飾摻假現象時有發生，不論是商家還是顧客都為此蒙受巨大的損失，而西凡儀器的金銀檢測儀可以讓金銀首飾的真實含量準確呈現，在這種公平公開的市場環境下，自然可以規避交易風險。
誠信展示
3、金銀首飾的摻假現象，讓顧客對商家產生了不信任，而商家借助金銀檢測儀可以將誠信經營的形象展現給顧客。
提升競爭力
4、客戶的信任能給珠寶首飾店帶來更多的營業收入，從而提升了市場競爭力。當前國內外許多珠寶店都配備有金銀檢測儀，這也是他們在行業里能保持強大競爭力的原因之一。
應用領域：
•珠寶首飾店
•典當行
•鑒定
•首飾工廠
•珠寶學校
•典當行
•鑒定
•首飾工廠
•珠寶學校
•專業實驗室
•質檢機構
•金屬工藝品
•貴金屬冶煉
•貴金屬提純
•質檢機構
•金屬工藝品
•貴金屬冶煉
•貴金屬提純
•貴金屬回收
•地礦勘探
•稀貴金屬
•合金材料
•黃金加工
•地礦勘探
•稀貴金屬
•合金材料
•黃金加工
產品榮譽證書
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