英飛思科學儀器有限公司是一家專業設計，研發及生產X熒光光譜儀的廠家。
XRF光譜儀，作為一種簡單，快速，準確的無損樣品元素分析技術，廣泛應用于礦產，電子，玩具，合金，石油及海事等領域的元素成分分析。
基于多年的技術積累和沉淀，英飛思擁有整套XRF光譜儀的原生態研發和制造技術，包括50瓦，100瓦高壓發生裝置，
50瓦光管的封裝工藝，數字多道分析(DPP)，控制電路板的設計和研發，基本參數法（FP）軟件著作權等。
我們不僅能提供整套光譜儀定制服務，而且能夠提供專業而系統的元素成分分析解決方案，以滿足客戶日益嚴苛而高標準的測試需求。
XRF熒光光譜儀專用測試薄膜
英飛思提供不同材料和厚度的專用測試薄膜，以滿足應用中的測試需求
樣品杯的底部覆蓋有X 射線透明薄膜。耐化學性取決于薄膜的材料和厚度：
下表展示了不同厚度和材質的薄膜對測試不同元素的影響
原則上，使用兩種材料：
聚酯（聚酯薄膜）和聚丙烯（商標名稱包含名稱片段的薄膜“丙烯”，例如以“lene”結尾的，通常與便宜得多的材料相同聚丙烯薄膜）。薄膜材料的耐化學性不同。雖然聚酯是穩定的對于溶劑、脂肪族化合物和燃料，聚丙烯提供更高的穩定性富含氧氣的流體（例如水、聚乙二醇和高沸點油）。聚丙烯特別適用于固體樣品的痕量分析，因為它沒有主要成分其中的污染。相比之下，聚酯薄膜含有不需要的磷和鈣（3.5 µmMylar 對應于純油（例如清潔白油）中的 50 ppm Ca 和 250 ppm P。薄膜，例如Hostaphan（帶有硅污染的聚酯）或聚碳酸酯（不含污染，用于燃料分析）受到限制或不再可用。Kapton 對輕元素的熒光輻射不是很透明，因此僅可用于分析具有更高原子序數的元素。
| 產品名稱 | 參考價 | 地區 | 公司名稱 | 更新時間 | |
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