奧林巴斯BX53M IR紅外觀察顯微鏡
可對裸眼不可見的區域進行無損的檢查和分析,以及近紅外觀察特化的顯微鏡。能對半導體晶片內部和集成電路組件背面進行無損的CPS bumps觀察
IR物鏡可用于透過硅材料成像，進行半導體檢查和測量。配備了5倍到100倍紅外（IR）物鏡，提供了從可見光波長到近紅外的像差校正。對于高放大倍率的物鏡，配備了LCPLN-IR系列帶校正環的物鏡，校正由樣品厚度導致的像差。使用一個物鏡即可獲取清晰的圖像。
紅外顯微鏡應用
英菲洛精密科技（蘇州）有限公司坐落于蘇州高新區科技城，專業從事中汽車零部件清潔度檢測設備、光學檢測儀器、圖像分析設備研發與銷售，為國內外客戶提供可靠材料測試解決方案。
英菲洛科技擁有一支訓練有素的清潔度檢測、樣品制備，光學及圖像分析應用團隊，憑借強大的自動化技術和資源整合能力，為汽車零部件，新能源，新材料，半導體、微電子、高校，研究所等行業客戶提供高性價比檢測產品。
我們三大事業部：
汽車零部件清潔度檢測事業部，研發銷售高性價比自動清潔度檢測設備，本公司在產品開發過程中嚴格按照ISO16232及VDA19清潔度檢測標準執行，現已*替代進口清潔度檢測設備，服務各大汽車零部件客戶，為傳統汽車零部件及新能源汽車行業客戶提供整體一站式清潔度解決方案。
材料事業部：代理銷售OLYMPUS光學顯微鏡，徠卡LEICA光學顯微鏡，TAIMECO金相制樣設備，SPECTRO直讀光譜儀，INNOVATEST硬度計，HITACHI掃描電鏡等檢測儀器。
半導體檢測事業部：為晶圓、集成電路、封裝測試廠提供可靠性檢測設備。
奧林巴斯BX53M IR紅外觀察顯微鏡
可對裸眼不可見的區域進行無損的檢查和分析,以及近紅外觀察特化的顯微鏡。能對半導體晶片內部和集成電路組件背面進行無損的CPS bumps觀察
IR物鏡可用于透過硅材料成像，進行半導體檢查和測量。配備了5倍到100倍紅外（IR）物鏡，提供了從可見光波長到近紅外的像差校正。對于高放大倍率的物鏡，配備了LCPLN-IR系列帶校正環的物鏡，校正由樣品厚度導致的像差。使用一個物鏡即可獲取清晰的圖像。
紅外顯微鏡應用
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