英菲洛精密科技（蘇州）有限公司坐落于蘇州高新區科技城，專業從事中汽車零部件清潔度檢測設備、光學檢測儀器、圖像分析設備研發與銷售，為國內外客戶提供可靠材料測試解決方案。
英菲洛科技擁有一支訓練有素的清潔度檢測、樣品制備，光學及圖像分析應用團隊，憑借強大的自動化技術和資源整合能力，為汽車零部件，新能源，新材料，半導體、微電子、高校，研究所等行業客戶提供高性價比檢測產品。
我們三大事業部：
汽車零部件清潔度檢測事業部，研發銷售高性價比自動清潔度檢測設備，本公司在產品開發過程中嚴格按照ISO16232及VDA19清潔度檢測標準執行，現已*替代進口清潔度檢測設備，服務各大汽車零部件客戶，為傳統汽車零部件及新能源汽車行業客戶提供整體一站式清潔度解決方案。
材料事業部：代理銷售OLYMPUS光學顯微鏡，徠卡LEICA光學顯微鏡，TAIMECO金相制樣設備，SPECTRO直讀光譜儀，INNOVATEST硬度計，HITACHI掃描電鏡等檢測儀器。
半導體檢測事業部：為晶圓、集成電路、封裝測試廠提供可靠性檢測設備。
清潔度檢測空白試驗
1、重量限值：低于假定分析重量的10%
注釋：在非受控的環境條件下（非受控的濕度和溫度），使用一個四位天平，蕞小可空白試驗值為0.3mg。因此為了滿足10%標準，在部件試驗期間應當至少收集到3mg。
2、顆粒數限值：按照相關尺寸，小于假定或者規定數量的10%，各個計算數字均下舍入，
示例：
對于一個粒度，規定數量為16,16*10%=1.6 舍入值=1
結論，空白可接受一個微粒
注釋：空白檢驗文件中所規定的粒度應當盡可能接近部件所能接受的蕞大粒度，并且予以選定，從而能夠計算出有效的微粒數量。
3、蕞大顆粒：IS0 16232-10粒度范圍的微粒剛剛低于假定或者規定蕞大顆粒的二分之一
示例：蕞大可接受粒度X=350um，350um/2=175um
這是ISO 16232-10所規定的粒度等級G，緊接著較低粒度等級為F級，也就是說對于空白來說，沒有微粒大于100um。
4、如果空白水平超過了10%，那么可以提高分析的試驗部件的數量，從而可以收集到更多的微粒，以便來滿足10%的極限。
關于清潔度檢測空白試驗及衰減測試詳情，請咨詢供應商代表，我們將竭誠為您服務！
| 產品名稱 | 參考價 | 地區 | 公司名稱 | 更新時間 | |
|---|---|---|---|---|---|
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