測量具有高壓偏置的晶體管輸入、輸出和反向轉移電容(Ciss、Coss、Crss、Cies、Coes、Cres)
測量獨立端接電容(Cgs、Cgd、Cds、Cge、Cgc、Cce)
測量常開型器件的電容,例如 SiC JFET 或 GaN FET
測量內置柵極電阻(Rg)
當柵極電壓從負電壓切換為正電壓時,可以連續測量電容
輕松切換泄漏測試和電容測量
工作電壓偏置高達 +/-3 kV
簡單易用、全自動測量
B1507A 能夠識別在實際電路工作電壓偏置條件下的不合格器件(偏置高達 3 kV),提供電容測量功能和泄漏測試功能,是彌補傳統 IV 測試設備(例如曲線追蹤儀)性能不足的解決方案。