EDX-800能量色散X射線熒光光譜儀應用于RoHS & WEEE指令分析、各種金屬膜厚度測量、工業鍍層厚度測量、鹵素指令Cl元素分析、礦石、原材料成份分析等、磁性磁性介質和半導體以及各種合 金、貴金屬成份分析.
主要特點
●分析元素范圍 Cl－Ｕ
●分析元素的濃度范圍 ppm—99%
●整機穩定性連續8小時測RSD<0.25%
● ROHS/WEEE檢測時間100-120秒
●美國原裝高靈敏電制冷Si(Pin)探測器
●電制冷Si(Pin)探測器 晶體面積15mm2分辨率<155eV
●全數字脈沖處理器技術
●優異的峰背比、的痕量分析靈敏度
● 50KV,50W自防護X-射線管
●復合濾光片智能切換技術
產品特征：
☆ 可分析精確分析氯元素和油漆中的鉛
☆ 集成FP法，Alpha系數法、經驗系數法
☆ 安全聯動裝置，軟硬結合的輻射設計
☆ 操作簡單、一鍵式操作
☆ 智能軟件自動參數設定和選擇濾光片
☆ X射線管超溫保護
☆ 電子冷卻，無需液氮和其它耗材
技術規格
| 儀器型號 | EDX-800能量色散X射線熒光光譜儀 | |
| 分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 | |
| 分析范圍 | Na(11)-U(92)任意元素 | |
| 檢出下限 | Cl/Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm | |
| 樣品形狀 | 任意大小，任何不規則形狀 | |
| 樣品類型 | 塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等 | |
| X射線管 | 靶材 | 鉬（Mo）靶 |
| 管電壓 | 5─50KV | |
| 管電流 | 1─1000ｕA | |
| 探測器 | 美國AMP-TEK X-123 Si-PIN探測器，高速脈沖高度分析系統 | |
| 高壓發生器 | 美國SPELLMAN高壓發生器 | |
| 濾光片 | 智能濾光片自動選擇并自動轉換 | |
| 樣品觀察 | 500萬彩色攝像機 | |
| 分析軟件 | 軟件產品 MS-V6.0版本，升級 | |
| 分析方法 | Alpha系數法（NBS-GSC法）、FP法、標準曲線法 | |
| 符合規范 | IEC62321、 SNT 2003.4-2006 、SNT 2003.5-2006 | |
