螢光X-RAY膜厚儀
特性:
2. 厚度測(cè)量極限:分辨率0.001um。
3. 可測(cè)試項(xiàng)目:單層膜厚、雙層膜厚、三層膜厚、化學(xué)鎳膜厚、 鉛合金膜厚及組成、壓鑄鋅上鍍銅、 二層同時(shí)測(cè)定、元素光譜分析。
4. 油浸式微小焦點(diǎn)X線管,50KV管電壓,由上而下垂直照射方式。
5. 采用多頻分析器,可快速處理能譜分析,可執(zhí)行測(cè)定物之能譜分析表示,操作簡單。
6. 濾波器:采用Co、Ni金屬及數(shù)字式濾波器,可單一或同時(shí)使用。
7. 準(zhǔn)直器:采用5種孔徑一體式之Collimator(可設(shè)定任意切換方式)。
8. 彩色樣品觀察系統(tǒng),附有+字刻度線,清楚顯示測(cè)定位置。
9. 客戶、各部品番號(hào)、批號(hào),可登錄在頻道內(nèi),共有300個(gè)測(cè)量頻道數(shù)。
10.自動(dòng)測(cè)定測(cè)量臺(tái),可使利用鼠標(biāo)或搖桿來輸入及調(diào)整測(cè)定位置,可登錄儲(chǔ)存100組自動(dòng)測(cè)定頻道,可作坐標(biāo)補(bǔ)正及頻道連結(jié)。
11.采用中文窗口作業(yè)軟件,設(shè)計(jì)及打印測(cè)量報(bào)告,插入測(cè)量位置的彩**片、非常容易。