• 五合一安規(guī)掃描分析儀 
  (交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻、層間短路、 直流電阻)
• 耐壓測(cè)試(Hi-pot) 
  - 5kVac / 6kVdc 
  - HSCC 高速接觸檢查
• 絕緣電阻測(cè)試(IR) 
  - 5kV
• 繞線元件脈沖測(cè)試 (IWT) 
  -脈沖測(cè)試高取樣率(200MHz)
• 直流電阻測(cè)試 
  - 10通道四線直流電阻測(cè)試 
  -Δ型/Y型馬達(dá)繞線電阻計(jì)算
• 支援40通道掃描測(cè)試
• 繁中 / 簡(jiǎn)中 / 英文操作介面
• USB波形儲(chǔ)存& 畫面擷取功能
• 圖形化彩色顯示
• 標(biāo)準(zhǔn)LAN, USB, RS232介面
• GFI人體保護(hù)電路

19036結(jié)合層間短路測(cè)試功能，具備6kV脈沖電壓，擁有波形面積比較、波形差面積比較、波形顫動(dòng)偵測(cè)(Flutter)及波形二階微分偵測(cè)(Laplacian)等判定，提供線圈自體絕緣不良以及電感量確認(rèn)之有效的檢測(cè)方法。

19036設(shè)計(jì)四線直流電阻量測(cè)接口，包含Drive 與 Sense并符合耐壓規(guī)格，可提供10通道的四線直流電阻量測(cè)與溫度補(bǔ)償功能。另可同時(shí)搭配16通道掃描盒最多可達(dá)到40通道掃描測(cè)試 。

19036提供高速接觸檢查(HSCC)功能，利用直接繞線電阻檢查快速掃描確認(rèn)多個(gè)繞組連接是否正常，解決繞線元件接觸不良而導(dǎo)致測(cè)試失敗的問題。

馬達(dá)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如UL 1004-1，需求高功率的安規(guī)綜合測(cè)試儀。Chroma 19036其具有輸出及量測(cè)AC100mA/DC 20mA的能力。對(duì)于漏電流較大或大型設(shè)備電氣安規(guī)測(cè)試的使用者，高功率的耐壓測(cè)試與其他安規(guī)測(cè)試整合于一臺(tái)綜合測(cè)試儀，將為產(chǎn)線及品保驗(yàn)證帶來的效益，500VA的設(shè)計(jì)也符合IEC/UL對(duì)輸出功率的要求。

量測(cè)技術(shù)

耐壓測(cè)試 ? FLASHOVER DETECTION 電氣閃絡(luò)偵測(cè) ARC 

19036 與Chroma 其他安規(guī)測(cè)試系列儀器同樣具有 Flashover偵測(cè)功能。Flashover是絕緣材料內(nèi)部或表面因 高電界產(chǎn)生電氣放電，待測(cè)物失去原有之絕緣特性，形 成暫態(tài)或非連續(xù)性放電，導(dǎo)致碳化導(dǎo)電通路產(chǎn)生或產(chǎn)品 傷害。若只以漏電流判定則無法檢出不良，須以測(cè)試電 壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測(cè) 為高壓測(cè)試的檢視項(xiàng)目之一。

脈沖測(cè)試 

所謂的『繞線元件脈沖測(cè)試』基本上是以一『非破壞性』、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測(cè)物上，再藉由分析／比對(duì)待測(cè)物良品與不良品之 等效波形以達(dá)到判定良否之目的。繞線元件脈沖測(cè)試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線元件中各種潛在之缺陷，例如：層間短路、電暈電弧或甚至是不 易發(fā)覺之部分放電等。 四種判定模式 

1.波形面積比較 (AREA SIZE) 

2.波形差面積比較 (DIFFERENTIAL AREA) 

3.波形顫動(dòng)偵測(cè) (FLUTTER DETECTION) 

4.波形二階微分偵測(cè) (LAPLACIAN DETECTION), 以二階微分演算，有效偵測(cè)出因電氣放電造成之波形不連續(xù)現(xiàn)象。

DCR 直流電阻量測(cè)功能

DCR量測(cè)(兩線/四線) 

Chroma 19036可選擇四線或兩線式直流電阻量測(cè)，新型式設(shè)計(jì)接口提供10通道四線直流電阻測(cè)量，對(duì)于馬達(dá)及變壓器等多繞組樣品提供高準(zhǔn) 確度量測(cè)，其量測(cè)范圍從0.1mΩ ~500kΩ。

直流電阻平衡判定 (DCR Balance) 

三組繞線馬達(dá)的直流電阻不平衡時(shí)，易導(dǎo)致旋轉(zhuǎn)不平衡，長(zhǎng)期使用后會(huì)造成品質(zhì)不良。直流電阻平衡功能將繞組的最小值相減，若超過設(shè)定 值范圍即為不良品，是馬達(dá)類產(chǎn)品長(zhǎng)期可靠度測(cè)試的輔助工具。

溫度補(bǔ)償功能(Temp Compensation) 

當(dāng)量測(cè)較小的直流電阻值時(shí)，常會(huì)遇到溫差所造成的問題。當(dāng)量測(cè)時(shí)的溫度不同時(shí)，量測(cè)的阻值也會(huì)不同。因此 19036 加入了溫度補(bǔ)償功能 (Temp Compensation)，經(jīng)由溫度系數(shù)的轉(zhuǎn)換，將直流電阻換算為標(biāo)準(zhǔn)溫度下量測(cè)的值，減少溫度差異造成的影響。

接觸檢查功能 

高速接觸檢查 High Speed Contact Check (HSCC) 電氣安規(guī)測(cè)試回路若發(fā)生開路，不良品會(huì)誤判為良品導(dǎo)致測(cè)試失敗 ; 若發(fā)生短路現(xiàn)象，可提早得知并篩選，減少對(duì)治具設(shè)備的傷害，高速接觸檢 查功能可快速掃描待測(cè)物線路接觸是否正常，此新技術(shù)可以讓耐壓測(cè)試前的接觸檢查比以往更快速完成， 19036另具有高頻接觸檢查(HFCC) 及開 短路偵測(cè)OSC(號(hào)254135)等多項(xiàng)接觸檢查功能，可偵測(cè)繞組與鐵芯間是否有開路(接觸不良)或短路(待測(cè)物短路)情形。

次測(cè)項(xiàng)功能 SUB?STEP 

部分生產(chǎn)廠商常以并聯(lián)進(jìn)行耐壓測(cè)試以提升生產(chǎn)檢測(cè)速度，但并聯(lián)測(cè)試時(shí)，無法正確設(shè)定電 流上下限值，導(dǎo)致不良品流出; 以及不良品需至后測(cè)站另加進(jìn)行測(cè)試，增加站數(shù)及成本。 19036系列提供次測(cè)項(xiàng)功能(sub-step)。當(dāng)生產(chǎn)需要并聯(lián)測(cè)試時(shí)，經(jīng)由程序的編輯，以不良 (Fail)做為次測(cè)項(xiàng)啟動(dòng)條件。意指當(dāng)測(cè)試于主測(cè)項(xiàng)(并聯(lián))不良時(shí)，才會(huì)進(jìn)行次測(cè)項(xiàng)測(cè)試(單顆)， 即可判斷出不良品為哪一顆待測(cè)物，可達(dá)到高產(chǎn)速與高檢測(cè)品質(zhì)佳化。

人體保護(hù)電路 GFI 

Chroma 19036擁有GFI人體保護(hù)功能來保護(hù)測(cè)試人員。在突發(fā)人體感電的情形下，GFI 能夠立 即切斷儀器之電壓輸出，保護(hù)操作員不受電氣傷害。GFI 功能以偵測(cè)從地端(Earth GND)流回 之電流(Ioperator)與LOW端電流(Idevice)，比較后若大于0.5mA，則會(huì)在立即切斷電壓輸出。

產(chǎn)品應(yīng)用

旋轉(zhuǎn)電機(jī)元件：△ / Y馬達(dá)、風(fēng)扇、轉(zhuǎn)子/ 定子 從電動(dòng)車主馬達(dá)、伺服器馬達(dá)、揚(yáng)升馬達(dá)與風(fēng)扇 等所有旋轉(zhuǎn)電機(jī)類產(chǎn)品，其制程中會(huì)進(jìn)行脈沖測(cè) 試 、耐壓測(cè)試及直流阻抗量測(cè)等測(cè)試來確保產(chǎn) 品品質(zhì)。并參考JB/T 7080國(guó)標(biāo)機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí) 行測(cè)試。19036之直流電阻量測(cè)上可進(jìn)行四線式 量測(cè)，單端點(diǎn)包含Drive和Sense共10組獨(dú)立通道 讓您可以一次掃描測(cè)試三顆待測(cè)物，提高生產(chǎn)產(chǎn) 能。每個(gè)通道可分別設(shè)定為高壓輸出/參考端/關(guān) 閉。

Y型馬達(dá)測(cè)試說明，測(cè)試項(xiàng)目為: 

- HSCC / OSC 

- DCR Test 

- Impulse Test 

- Hi-pot –Sub step test 

△與Y型馬達(dá)繞組 

針對(duì)△型與Y型馬達(dá)繞組(無中心抽頭式)無法直 接進(jìn)行直流電阻量測(cè)的問題， Chroma 19036 具有馬達(dá)繞線電阻計(jì)算功能， 經(jīng)計(jì)算后得 到R1,R2,R3的數(shù)值。40通道掃描測(cè)試 

A190359掃描器提供16個(gè)測(cè)試通道，每個(gè)通道 都可設(shè)定為H(高壓輸出)，L(參考點(diǎn))或是Off(不 設(shè)定)。19036與A190359組合可應(yīng)用于多PIN或 少量多樣型之待測(cè)物 以及cell單元式產(chǎn)線，單 站完成所有測(cè)試。