美國泰克371A TEK371A晶體管測試儀 

主要參數：·半導體器件高精度測量

-上限達2000V或電流到10A的源（370A）

-上限到3000V（371A）

-上限到220W（370A）

-上限到400A（371A）

-1nA的測量分辨率

-上限到3000W（371A）

·上限到2mV的測量分辨率（370A）

·波形對比

·包絡顯示

·波形平均

·點光標（370A）

·Kelvin傳感測量

·全程控

·MS-DOS兼容的軟盤，方便設置參孝存儲和調用

 應用

 手動或自動進行半導體高分辨率DC參數測量

 來料檢查

 生產測試

 過程監視及質量控制

 數據報告的生成

 元件配對

 失效分析

 工程測試

 交互式程

所有交互式程控測量是通過有鮮明特點的前面板或GPIB來完成的。使用幾種存儲方式，調整和存儲操作

參數，包括370A的非

 易失存儲器、內置的MS-DOS兼容的軟盤或到外部控制器。

 測試夾具

 測試夾具是標準附件，它提供被測器件安全防護，以保護測量人員的安全。測試夾具適應標準的A1001

，中間通過Kelvin傳

 感的A1005適配器、無Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。

370A程控特性曲線圖示儀

370A是全/球/著/名的高分辨率特性曲線圖示儀，可應用到許多場合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管

、可控硅、場效應管

 、光電元件、太陽能電池、固態顯示和其它半導體器件的直流參數特性的測試。

 在研發實驗室，用370A來完成新器件、SPIEC參數的提取、失敗分析和產生數據報告這些具體的測試工作

 在制造過程中，用370A檢驗器件質量及過程監視。

370A可進行來料檢查、器件性能測試、失效分析和器件配對這些測試工作。

 技術指標 集電極電源 模式 AC,±DC,±泄露，±整流的正弦波 范圍 zui大峰值電流（±） 峰值電流

（脈沖式）（±） 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 階梯信號發生器 模式 

階梯：DC,80μS脈沖，300μS脈沖 階梯量程- 電流： 50nA到200mA，按1-2-5順序 電壓： 50mV到2V，

按1-2-5順序 偏置 zui大到±10X階梯幅度 階梯數 0到10 測量特性 集電極電流- 測試量程： 

100nA/div(1nA分辨率）至2A/div誤差，1.5%光標讀出+0.05div設定值（點光標） 發射極電流- 測試量

程： 1nA/div(10pA分辨率）至2mA/div 誤差 1.5%光標讀出+0.05div設定值+1nA 安全標準 UL1244，

CSA231，HD401S1