R&S®RTE 系列示波器提供一體化的多域測試解決方案，一臺儀器就能勝任時域、頻譜、協議和邏輯分析多域測量功能。它提供功能一致、操作簡便的標準化用戶界面，所有分析功能都與時間相關聯，深得用戶好評。下面的例子清晰顯示這些優點。嵌入式設備上偶發的故障常常由來自于內部電源的干擾。R&S®RTE 系列示波器可以根據處理器和接口活動，在時域和頻域分析電源質量。這種一體化解決方案即使面對復雜設計也能快速檢測到錯誤。

性能出色、使用方便的 R&S®RTE 示波器
示波器具有 200 MHz至2GHz 的帶寬范圍和優異的性能參數：

? 采樣率為 5 GS/s，存儲器深度為 200 Msample， 可精確采集長信號序列
? 波形捕獲率大于每秒 100 萬個波形，適合快速發現信號錯誤
? 超低噪音前端和16 位垂直分辨率，在高分辨率模式下顯示精確結果
? 高精度數字觸發系統幾乎沒有任何抖動，適合針對小信號細節進行實時觸發

提供的標配功能有 Quick Meas一鍵測量功能、快速 MASK模板測試、強大的頻譜分析、History 歷史回放功能以及 77 種自動測量功能等。由于是在羅德與施瓦茨公司 ASIC 中基于硬件實現各種測量功能，該示波器可以迅速獲得測量結果。結果以大量波形為基礎，提供統計結論信息。

R&S®RTE 示波器可實現用于復雜分析的專用解決方案，包括適用于串行協議的觸發和解碼選件和電源分析選件。混合信號選件提供了16 個數字通道，用來分析嵌入式設計中的邏輯元件。

功能強大的R&S®RTE 示波器配有高分辨率10.4" XGA 觸摸屏，使用十分方便。

R&S@RTE示波器提供全面集成的多域測試解決方案，包括時域、頻域、協議和邏輯分析功能。多合一測試方案即使在針對復雜設計時也可以快速檢測信號故障。

從嵌入式設計開發、電力電子分析到一般調試，R&S®RTE 示波器可用來快速、精確和方便地完成日常測量與測試工作。

頻譜分析功能介紹：

? 多通道頻譜分析
? 顯示功率和頻譜隨時間的變化
? 對數坐標顯示頻譜
? 采用自動峰值列表獲取快速結果
? 模擬前端具有高動態范圍和低本底噪聲，射頻性能極其優異
? 具有眾多分析功能的時頻域相關分析能力

頻域中的模板測試
EMI 調試：
產品開發期間的電磁干擾測試
與 R&S®HZ-15 近場探頭配合使用， R&S®RTE 示波器非常適合產品開發過程中的EMI測試。
? 高輸入靈敏度和動態范圍，能夠可靠檢測無用輻射
? 具有強大的 FFT 功能，提供有關頻譜成分的頻率信息
? 選通 FFT 便于頻譜與時間之間的關聯
? 通過頻域的模板測試，有目標地分析零星輻射

R&S®RTE 示波器是一種功能強大的EMI調試工具。其具有很高動態范圍和輸入靈敏度（全測量帶寬下 500 μV/ div），能夠檢測出微弱的輻射。強大的 FFT功能具有易操作性、高波形捕獲率以及根據發生頻次用不同顏色顯示頻譜等功能，使其非常適合在頻域中進行所需分析。與近場探頭結合使用，用戶可快速發現并分析 EMI 問題。


名稱 型號 訂貨號
200 MHz，5 GS/s，50/100 M 樣點，2 通道 R&S®RTE1022 1326.2000.22
200 MHz，5 GS/s，50/200 M 樣點，4 通道 R&S®RTE1024 1326.2000.24
350 MHz，5 GS/s，50/100 M 樣點，2 通道 R&S®RTE1032 1326.2000.32
350 MHz，5 GS/s，50/200 樣點，4 通道 R&S®RTE1034 1326.2000.34
500 MHz，5 GS/s，50/100 M 樣點，2 通道 R&S®RTE1052 1326.2000.52
500 MHz，5 GS/s，50/200 M 樣點，4 通道 R&S®RTE1054 1326.2000.54
1 GHz，5 GS/s，50/100 M 樣點，2 通道 R&S®RTE1102 1326.2000.62
1 GHz，5 GS/s，50/200 M 樣點，4 通道 R&S®RTE1104 1326.2000.64
1.5 GHz，5 GS/s，50/100 M 樣點，2 通道 R&S®RTE1152 1326.2000.72
1.5 GHz，5 GS/s，50/200 M 樣點，4 通道 R&S®RTE1154 1326.2000.74
2 GHz，5 GS/s，50/100 M 樣點，2 通道 R&S®RTE1202 1326.2000.82
2 GHz，5 GS/s，50/200 M 樣點，4 通道 R&S®RTE1204 1326.2000.84

基本單元（包括標準附件：每通道一支：R&S®RT-ZP10、附件包、快速入門指南、手冊光盤、電源線） 數字示波器