為挑戰性的高速檢定測試提供秀的信號保真度
DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖動，可以實現異常準確的器件檢定，全面支持光通信標準、時域反射計和 S 參數。DSA8300 數字采樣示波器為 155 Mb/s 至 40 Gb/s 及更高速率的數據通信提供了完整的高速物理層測試平臺
功能 | 優勢 |
電模塊信號測量準確度：
| <100 fs 本底抖動允許對高位速率（40 和 100 (4′25) Gb/s）設備進行檢定，典型 <5% 的信號單位間隔由測試儀器所使用。70 GHz 帶寬允許對高位速率信號進行完整檢定（數據速率 28 Gb/秒的 5 階諧波和數據速率 >45 Gb/秒的 3 階諧波）。 |
所有帶寬上系統噪聲業內：
| 降低儀器在采集高位速率、低幅度信號時的噪聲量，避免可能帶來附加抖動和眼圖閉合的其他噪聲。 |
| 單臺主機內最多 6 個通道同時采集 <100 fs 抖動。 | 多個差分通道的高保真采集可進行通道間損傷測試，提高多個高速串行通道系統的測試吞吐量。 |
| 光模塊支持從 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太網所有標準速率的光一致性測試。 | 為單模和多模光標準提供經濟實惠、功能多樣的光測試系統，從 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s（SONET/SDH 和 40GBase 以太網）和 100 Gb/s 以太網（100GBase-SR4、-LR4 和 ER4），波長 850、1310 和 1550nm。 |
| 優異的采集吞吐量，采樣率 300 kS/s。 | 通過優異的系統吞吐量，可將制造或設備檢定測試時間縮短 4 倍。 |
| 能夠將采樣器放到被測設備 (DUT) 的附近。 | 遠程采樣頭降低因 DUT 至儀器之間的電纜和夾具造成的信號劣化，簡化測試系統的反嵌。 |
| 獨立的已校準通道相差校正。 | 雙通道模塊中具有集成的已校準通道相差校正，消除時滯，增強多通道測量的信號保真度。 |
| 模擬帶寬 | 采樣率 | 記錄長度 | 模擬通道 |
|---|---|---|---|
| 70 GHz 電接口，80 GHz 光接口 | 300 kS/s | 50 點 - 16,000 點（IConnect® 為 1M 點，80SJNB 為 10M 點） | 取決于使用的采樣模塊，最多 8 個通道 |
| 產品技術資料 | 探頭 | 說明 | |
|---|---|---|---|
| DVT30-1MM GigaProbe | 30 GHz TDR 探頭由 GigaProbes 提供。 | ||
| 查看產品技術資料 | P8018 | 手持式 TDR 探頭，無源；20 GHZ，單端，50 歐姆，SMA 連接器帶 20 GHZ SMA 電纜；設計為配合使用 80A02 EOS/ESD 保護模塊；本產品包含一致性聲明 | |
| 查看產品技術資料 | P80318 | 探頭包，18GHz 100 歐姆差分手持探頭 |
| 產品技術資料 | 探頭 | 說明 | |
|---|---|---|---|
| 查看產品技術資料 | P6150 | 無源探頭：10X/1X，9GHz，12.5V 低電容 |
| 產品技術資料 | 探頭 | 說明 | |
|---|---|---|---|
| 查看產品技術資料 | P7330 | 探頭；差分；3.5 GHZ 帶寬，+/-1.75 V 差分，大動態范圍，+5V -4V 共*圍，輸入處 2.3 MV RMS 噪聲，5X 衰減 - 可追溯校準標準證明 | |
| 查看產品技術資料 | P7350 | 差分探頭，5 GHZ |
