SPECTRO公司推出的全新SPECTROLAB 新型金屬分析儀大大提高了分析性能，增強了靈活性，操作更為簡便。根據(jù)用戶要戶要求量身定制，十種標準基體：鐵、鋁、銅、鎳、鈷、鎂、鈦、錫、鉛和鋅，可以與五種貴金屬基體：金、銀、鉑、鈀、釕組合配置。
SPECTROLAB光學系統(tǒng)集合了傳統(tǒng)光電管光學系統(tǒng)和CCD全譜光學系統(tǒng)的所有優(yōu)點。主光學系統(tǒng)內(nèi)部包括兩個獨立的光譜模塊---光電管光學部分和CCD光學系統(tǒng)，信號通過高性能數(shù)據(jù)讀出系統(tǒng)來處理。
配備極新現(xiàn)代化的光譜技術和高質(zhì)量的組成部件，SPECTROLAB適用于各種分析要求，可廣泛應用于金屬冶煉、金屬加工與回收等行業(yè)。

·多光學系統(tǒng)設計:每臺儀器設置3個光學系統(tǒng)
·數(shù)學化激發(fā)光源
·快速分析:標準檢測時間18秒
·TRS時間解析光譜技術
·精確的分析結果:*的光源技術改進了檢出限和分析精度。靈敏度可以達到ppm甚至更底量級
·SSE單火花測量技術，分析金屬的夾雜物。例如鋼鐵中的酸溶鋁和酸不溶鋁
·降低操作成本：檢測過程中能有效減少50%的氬氣耗量
·減少了維護工作量：自動氬氣沖洗系統(tǒng)可清除樣品激發(fā)殘留粉塵，5000次激發(fā)免清洗
·操作簡單：SPECTRO Spark Analyzer軟件便于分析操作，而且每一步操作都簡單直觀
·更實用的設計：設計時充分考慮了產(chǎn)生過程中的工作空間，儀器占地面積小，儀器底部裝有腳輪。使用和更換部件非常方
便根據(jù)用戶要求，提供德國原廠校準工作曲線和校準標樣。
SPECTROLAB 的尾氣過濾系統(tǒng)可避免火花臺中的粉塵排至實驗室房間。
火花臺內(nèi)部容積很小，分析過程中的氬氣消耗量可減少約一半，降低了操作成本。新設計的氬氣流方向優(yōu)化火花臺中氬氣的質(zhì)量。無需專門工具即可更換火花臺蓋板。只需順時針轉(zhuǎn)1/8圈，松開四個緊固螺釘即可更換蓋板重新緊固螺釘。所需的僅僅是一把改錐。無需工具，只需用手擰松兩個螺釘即可更換入射透鏡。
樣品夾可左右旋轉(zhuǎn)便于分析大塊樣品時快速更換樣品。
配有多種樣品夾具，適合分析不同形狀的樣品如：小塊樣品、線材、薄片等。提高了分析的準確度和重現(xiàn)性。
經(jīng)過改進的光學界面可傳送更多的光譜信號，使分析精度顯著提高。SPECTROLAB的光學系統(tǒng)內(nèi)部采用全新元件和較新的安裝技術具有目前較佳的的精度和穩(wěn)定性。
采用全新元件和較新制造技術使光學系統(tǒng)具有良好的精度和穩(wěn)定性。根據(jù)不同用途和需要測定的元素數(shù)量配置3個光室來滿足分析要求。這種優(yōu)秀的專業(yè)化創(chuàng)新設計可顯著改善分析性能，SPECTROLAB配備有充氮氣UV紫外系統(tǒng)，可測定波長范圍低于230nm的遠紫外譜區(qū)。波長范圍可達120nm，并具有顯著的分析優(yōu)勢。配有自循環(huán)凈化系統(tǒng)，大大減少了維護工作量。
在儀器設計方面值得稱道的是它不僅外光美觀，而且充分考慮到了所有部件便于更換，操作安全方便，維護周期等。這樣顯著減少了操作者日常費時的維護工作量，節(jié)省了分析時間。
儀器設有儲藏室便于隨手拿取工具，高度符合人體工程學設計，便于操作人員使用儀器。SPECTROLAB裝有腳輪，維修時可以方便地將儀器移到其他位置。儀器占地面積小。
全新的32位Windows “SPECTRO Spark Ananlyzer Vision”軟件，不僅使操作簡便直觀，而且顯著增強了儀器的參數(shù)設置、同外部計算機的數(shù)據(jù)交換、報表生成以及統(tǒng)計分析等功能。同時，還可以通過SQL數(shù)據(jù)庫來進行數(shù)據(jù)管理。
“SPECTRO Spark Ananlyzer Vision”軟件界面非常簡單明了。通過鼠標可以在三個主要模式：“日常分析”，“方法建立”，“儀器配置”之間進行切換。屏幕上可顯示各項分析結果及平均值。
通過Windows剪貼板可方便快速地向其他Windows程序?qū)С鰯?shù)據(jù)。
在“儀器配置”模式下，儀器的參數(shù)設置非常直觀。可在同屏中多窗口顯示所有需要的信息，使操作簡單明了。
SPECTROLAB通過SATEUS(可用樣品的檢測技術)來識別預激發(fā)過程中有缺陷的樣品，SEREPS（自調(diào)整預激發(fā)技術）來自動優(yōu)化預激發(fā)時間，SETEME(測量可靠的檢測技術)可自動檢測出整個分析過程中的有缺陷的樣品，從而避免因操作不當、樣品制備不好或樣品有缺陷等因素使儀器的分析性能受到影響。

技術參數(shù)
--多光學系統(tǒng)
帕邢-龍格結構，光柵焦距750mm，羅蘭圓
達到分析波長范圍：120nm—800nm
充氮氣（UV-PLUS）紫外光學系統(tǒng)，用于分析小于230nm波長；并配有自動循環(huán)氣體凈化系統(tǒng)
一級光譜分辨率：6pm
每臺儀器可選配3個光室
光柵刻線：3600 g/mm, 2400 g/mm, 1800 g/mm
選用不同光譜靈敏度的光電倍增管，根據(jù)不同分析用途進行優(yōu)化設計
光電倍增管底座優(yōu)化定位檢測系統(tǒng)
采用雜散光防護元件

--火花臺
優(yōu)化的低氬氣消耗量設計
易于更換的火花臺蓋板，不需要定位工具
樣品夾可旋轉(zhuǎn)，可快速更換不同幾何形狀的樣品
的光學界面
無需工具可快速清洗入射透鏡
集成安全電路

--激發(fā)光源
全數(shù)字化光源，帶數(shù)字放電限定，數(shù)字脈沖發(fā)生器和數(shù)字離線脈沖控制
32M微處理器
每200μs放電400次
能量分辨率：125mW
單火花放電時間最長4000μs
火花激發(fā)能量：4KW
讀出系統(tǒng)
時間解析光譜技術（TRS），改善檢出限和分析精確度

--光譜儀控制
計算機控制光譜儀
自診斷功能
通過TCP/IP協(xié)議連接的操作軟件可調(diào)節(jié)和控制所有功能參數(shù)

--軟件
Spark Analyzer Vision軟件包用于分析操作和校準
通過SQL數(shù)據(jù)庫對分析結果進行存檔管理
通過XML或Windows剪貼板導出分析結果
SYS-GATE集成數(shù)據(jù)輸出模式
可用樣品的檢測技術（SATEUS）,可自動檢測出預激發(fā)過程中有缺陷的樣品
自調(diào)整預激發(fā)技術（SEREPS），可自動優(yōu)化預激發(fā)時間，直至消除樣品缺陷
測量可靠的檢測技術（SETEME），可自動檢測出分析過程中的有缺陷的樣品

--計算機系統(tǒng)
采用目前*的計算機，Windows XP操作系統(tǒng)
17″TFT平面顯示器
采用目前*的彩色噴墨打印機

--光譜儀供電要求
230VAC-15%/+10%,50Hz/60Hz
分析時達到功率1.5kVA
待機狀態(tài)：0.5 kVA
16A慢熔保險

--尺寸規(guī)格
長1400*寬780*高1520mm

--重量
凈重約375Kg