簡介︰

的A.S & Co產(chǎn)品系列SpectraVision 4，軟件模塊包含多種硬件控制，如PMT，光譜儀，成像攝像頭，光源燈；可以完成標準設(shè)置的測試分析，也可以進行客戶自定義的獨立研究分析。SpectraVision 4進行反射率測量是通過選擇PMT或者CCD探測器完成的，可根據(jù)客戶需要進行靈活配置。探測器直接耦合在光路中，不需要光纖連接，能夠達到的信號接收品質(zhì)。可選制冷循環(huán)系統(tǒng)，可以極大提高信噪比（S/N）。

產(chǎn)品概述和特點

SpectraVision 4成像模塊是一種新開發(fā)的工具，能夠幫助鏡質(zhì)體的測量。基于現(xiàn)代成像系統(tǒng)的12-16bit動態(tài)范圍視頻攝像頭探測器，得到原始的成像圖片。同時能夠記錄下測量位置的信息。可應(yīng)用到特殊領(lǐng)域，如焦化廠煤質(zhì)分析。快速給出煤品質(zhì)和顆粒度等計算信息，提供的煤階配比。成像顯示樣品形貌和測量位置，同時給出直方圖信息。基于電動控制載物臺的系統(tǒng)，可以自動掃描樣品，自動分析測試結(jié)果，輸出測試報告。

SpectraVision 4可以在一套軟件中根據(jù)用戶的實際需要，提供多種獨立和功能強大的應(yīng)用模塊。系統(tǒng)可以進行標準化的鏡質(zhì)體反射率測量，同時也可進行精密、復雜的樣品探測，完成反射，透射，熒光光譜分析。

SpectraVision 4地質(zhì)和有機巖相學應(yīng)用主要特點：

?  鏡質(zhì)體反射率

?  多種有機質(zhì)成分分布

?  偏振模式

?  顯微熒光光譜

?  成熟度研究

?  色域分析

?  鏡質(zhì)體反射率和熒光光譜相關(guān)研究

?  自動成像和工業(yè)、巖相學圖像測量

?  波長精度定標和信號強度動態(tài)范圍檢測

?  自動感測和熒光標定

SpectraVision 4系統(tǒng)特點

?  標準546nm波長反射率測量；

?  計算直方圖符合DIN/ISO 標準；

?  測量結(jié)果符合GB/T12937-2008；GB/T 8899-2013；GB/T 15590-2008標準所需測量要求。

?  統(tǒng)計參數(shù)如平均值，標準偏差；

?  多組分分布測量。

根據(jù)顯微鏡能力，SpectraVision 4具有的功能

?  明場、暗場透射模式；

?  明場、暗場反射模式；

?  偏振模式；

?  熒光模式；

?  三維模擬成像。

 圖1顯微鏡光照下圖形

圖2通過circular-difference-interference-contrast（循環(huán)微分干涉對比）技術(shù)，使得三維微觀結(jié)構(gòu)可視化

技術(shù)參數(shù)