用于工藝質量監控定標性測試系統ContourGT-X是實驗室開發到批量生產均可適用的儀器。它積累了代產品在白光干涉技術上的，實現了快速地三維表面測量，從納米級粗糙度表面的測量到毫米級臺階的測量，垂直分辨率可達亞納米級。可編程的XYZ控制和掃描頭自動控制，使得儀器操作簡便易行。配備的Vision64軟件，具有業界儀器測量和數據分析功能，而其優化設計的用戶界面為使用者自行定義自動測量和數據分析提供了便利。
ContourGT-X是當今業界xian進的白光干涉儀，可用于眼科鏡片、科研、高亮度LED、半導體器件、TSV、太陽能電池片、汽車零部件、觸摸屏和加工零件等各行業，為用戶提供快速、準確地三維非接觸式測量。內部激光自校準技術可以自動校準因環境或機械不穩定產生的漂移，無需標準塊。大學、研究所，工業領域的LED行業、太陽能行業、觸摸屏行業、半導體行業以及數據存儲行業、科學研究、產品開發、質量控制及失效分析等領域業界xian進的白光干涉儀
ContourGT-X配備傾斜調整支架、全自動X,Y, Z 樣品臺、自動視場目鏡轉換臺，測試過程更快、更便捷。節省空間高穩定性的基座設計以及與機臺集成一體式的防震系統，使系統具有防震性與穩定性。配備新的Vision64軟件，具有業界儀器測量和數據分析功能，而其優化設計的用戶界面為使用者自行定義自動測量和數據分析提供了便利。
儀器特性：
· 業界，大視場下高的垂直分辨率
· 從0.5x到200x不同放大倍率實現不同面型和織構表面的表征
· 硬件的優化設計進一步的儀器抗噪聲能力、系統靈活性和測量穩定性
· 激光自校準技術使得儀器間測量數據一致，測量的重復性和準確性
· 優異的縫合能力可以對上千個數據無縫拼接，實現樣品大面積檢測
· 多核處理器和64位軟件使數據分析速度
