產品參數
產品編號: 清潔度分析系統BH-CIA780所屬品牌: BAHENS產品型號: BH-CIA780 額定功率：按實際方案提供所屬類別: 清潔度分析系統所屬用途: ISO4406應用領域:產品特性: 清潔度分析系統BH-CIA780由奧林巴斯（OLYMPUS）顯微鏡、德國電動臺,自動偏振照明，自動拍照系統、全自動清潔度分析軟件組成。按照各種國內及國際標準：包括ISO4406、ISO4407、ISO16232、NAS1638、VDA19、GB/T 20082、GB/T 14039等，以及客戶自定義的標準，自動生成專 業的清潔度評級和分析報告。下載相關資料-
清潔度分析系統BH-CIA780
顯微鏡
? 奧林巴斯（OLYMPUS）顯微鏡SZ61
檢測內容
? 雜質平面尺寸（可擴展雜質高度測量）
? 雜質數量
? 雜質形狀分類：顆粒或纖維
? 雜質性質分類：反光（金屬），亞光（非金屬，金屬氧化物）
偏振光照射
依據雜質的反光和亞光在圖像上的灰度差別，為金屬與非金屬顆粒的判定和判定提供最直接的參考數據和影像，用偏振光照射，記錄在兩個情況下進行比較，然后用于準確區分金屬和非金屬顆粒。
視場自動定位
? 采集過程自動拍照、照片自動保存，進度狀態實時可見；照片信息存入數據庫，方便查詢；
? 提供視場圖片瀏覽功能，可以實現視場定位回溯、重新拍照等功能。
軟件分析
? 主界面包含多種數據展示方式：map圖、顆粒分析結果、顆粒數據列表、統計直方圖等。
? 支持模板化報告生成模式，包含統計數據、評級、濾片全貌圖、顆粒照片等信息。
