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公司介紹主營產品

沈陽佳士科商貿有限公司是JASCO日本分光株式會社在中國地區的辦事處。設立于2015年，主要負責JASCO日本分光株式會社制分析儀器在中國區域銷售及相關事務，儀器主要包括，光譜儀：傅立葉變換紅外光譜儀FT/IR，激光拉曼光譜儀Raman，紫外/可見/近紅外分光光度計UV-Vis/NIR，圓二色光譜儀CD，熒光光譜儀FP，全自動數字旋光儀等，色譜儀：超高壓液相色譜儀X-LC,高效液相色譜儀HPLC，超臨界萃取/色譜儀SFE/SFC，實驗室管理，試劑耗材等。公司致力于為客戶提供專業的實驗室整體解決方案，覆蓋分子生物學、細胞生物學、生物工藝、微生物學、材料科學、等領域。客戶涵蓋政府檢驗檢疫、藥檢、質檢、疾控中心、大型企業、研究部門、醫院、高校、等。　　公司技術團隊擁有良好經驗的高學歷人員組成；銷售團隊由一批畢業于各高等院校或從事過實驗室工作的、有著良好行業經驗的人員組成；售后服務團隊由經過廠家嚴格專業培訓并有多年維修服務經驗的維修工程師組成。　　秉著"為客戶提供專業、周到的服務，一切以客戶為依歸"的宗旨，也本著取之于社會回饋于社會的精神，為各行業提供更豐富、更專業、更完善的服務。

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產品簡介在線詢價

橢圓計（膜厚測定多層膜解析光弾性測定）　M-series

橢圓計（膜厚測定多層膜解析光弾性測定）　M-series 產品詳情

橢圓率計 （測量膜厚 多層膜解析 測量光彈性）　M-series

▼概要
日日本分光制的橢圓計配有日本分光產的PEM雙重鎖定方式和光伺服?光參考方式，實現高速性和高安定性。由于偏光素子的軸配置適合特別薄的膜和微小的偏光測量，所以主要用于向高集積化和高精細化發展的半導體及高機能光學薄膜等材料的評價。
◆規格
▼M-210/220/230/240/550/ELC-300

型號	M-210	M-220	M-230	M-240	M-550	ELC-300
測量方法	PEM雙重鎖定方式、光伺服/光參照控制方式
分光器	-	雙單色器自動波長驅動裝置		雙單色器（260～900nm）單單色器（900～1700nm）自動波長驅動裝置	單單色器自動波長驅動裝置	雙單色器自動波長驅動裝置
測量波長	He-Ne激光 (632.8nm)	He-Ne激光(632.8nm) Xe光源 (260～860nm)	He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (240～700nm)	He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (26～900nm) 鹵素燈 (900～1700nm)	Xe光源 (350～800nm)	He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (260～860nm)
入射角范圍	40゜～ 90゜連續自動設定（0.01゜間隔）				45゜～ 90゜連續自動設定（0.01゜間隔）	40゜～ 90゜連續自動設定（0.01゜間隔）
膜厚測量范圍	0～99999?
測量時間	1msec以上					20μsec～16sec
測量準確度^*	屈折率　±0.01
	膜厚　±1?
	消衰係數　±0.01
	*準確度是指測量時間100msec以上。另外、根據表面狀態、膜質不同準確度也不同。
樣品室	樣品垂直放				樣品水平放	樣品垂直放
檢測器	檢光子（Glan-Taylor棱鏡）紫外可見區域：光電子倍増管　近紅外區域：InGaAs-PIN光電二極管（M-240）

▼軟件

主機標準

1.時間變化測量
2.膜厚測量
3.Δ-Ψ模擬
4.光譜測量?解析^*1
5.誘電率計算^*1
6.反射率計算^*1
*1 M-210型號不是分光型不可使用

選項程序

1. 映射測量（自動X-θ帶映射臺）
2.多層膜解析^*2
3.多入射角測量
4.靈敏度模擬^*2
5.波長Cauchy光譜^*3
6.橢圓率測量?解析、測量波長固定復屈折（帶異方性解析臺）^*3
7.測量3次元屈折率（需要異方性解析臺）^*3
8.測量光弾性定數（帶光弾性測量用透過臺）^*3
*2 M-210不是分光型的不能使用
*3 M-550不能測量透過不能使用。

◆規格
▼M-210/220/230/240/550/ELC-300

型號	M-210	M-220	M-230	M-240	M-550	ELC-300
測量方法	PEM雙重鎖定方式、光伺服/光參照控制方式
分光器	-	雙單色器自動波長驅動裝置		雙單色器（260～900nm）單單色器（900～1700nm）自動波長驅動裝置	單單色器自動波長驅動裝置	雙單色器自動波長驅動裝置
測量波長	He-Ne激光 (632.8nm)	He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (260～860nm)	He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (240～700nm)	He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (26～900nm) 鹵素燈 (900～1700nm)	Xe光源 (350～800nm)	He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (260～860nm)
入射　角范圍	40゜～ 90゜連續自動設定（0.01゜間隔）				45゜～ 90゜連續自動設定（0.01゜間隔）	40゜～ 90゜連續自動設定（0.01゜間隔）
膜厚測量范圍	0～99999?
測量時間	1msec以上					20μsec～16sec
測量準確度^*	屈折率　±0.01
	膜厚　±1?
	消衰係數　±0.01
	準確度是指測量時間100msec以上。另外、根據表面狀態、膜質不同準確度也不同*。
樣品室	樣品垂直放				樣品水平放	樣品垂直放
檢測器	檢光子（Glan-Taylor棱鏡）紫外可見區域：光電子倍増管　近紅外區域：InGaAs-PIN光電二極管（M-240）

▼軟件

主機標準

1.時間變化測量
2.膜厚測量
3.Δ-Ψ模擬
4.光譜測量?解析^*1
5.誘電率計算^*1
6.反射率計算^*1
*1 M-210型號不是分光型不可使用

選項程序

關鍵詞：光電二極管標準

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