Hot Disk TPS 2500 S是Hot Disk AB公司一系列產(chǎn)品中的核心系統(tǒng)。這款研發(fā)用熱常數(shù)分析儀針對任何類型材料的精準(zhǔn)熱傳導(dǎo)性能分析而設(shè)計(jì)，是主流的科研系統(tǒng)并滿足ISO 22007-2標(biāo)準(zhǔn)。
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系統(tǒng)
Hot Disk TPS 2500 S是Hot Disk AB公司一系列產(chǎn)品中的。這款研發(fā)用熱常數(shù)分析儀針對任何類型材料的精準(zhǔn)熱傳導(dǎo)性能分析而設(shè)計(jì)-包括導(dǎo)熱系數(shù)，熱擴(kuò)散系數(shù)和比熱測試。TPS 2500 S能覆蓋廣闊的材料種類以及幾何形狀和尺寸，并滿足ISO 22007-2標(biāo)準(zhǔn)。
如今廣泛的應(yīng)用在超過1000個(gè)實(shí)驗(yàn)室里的標(biāo)準(zhǔn)化TPS技術(shù)可在一次測試中同時(shí)得到導(dǎo)熱系數(shù)，熱擴(kuò)散系數(shù)和比熱數(shù)據(jù)并無需復(fù)雜的樣品制備，廣受用戶青睞。TPS 2500 S操作的簡便性和優(yōu)化的Hot Disk探頭優(yōu)秀的表現(xiàn)使這款系統(tǒng)成為測量固體，液體，粉末，膏體和泡沫材料理想的可信的工具。優(yōu)秀的精度和重復(fù)性表現(xiàn)使系統(tǒng)也適用于質(zhì)檢檢測領(lǐng)域。
軟件模塊的選擇使TPS 2500 S的測試更加專業(yè)，各向同性模塊用于各向同性樣品的基本測試；一維測試模塊用于棒狀樣品測試；薄膜測試模塊用于薄膜，涂層或膠粘層樣品測試；平板測試模塊用于高導(dǎo)熱片或板樣品測試；低密度高絕熱測試模塊用于極輕和低導(dǎo)熱樣品測試；各向異性測試模塊用于各向異性或?qū)訝罱Y(jié)構(gòu)樣品測試-涵蓋了電子，汽車，航空，核能和化工行業(yè)所有重要應(yīng)用。此外，TPS 2500 S還具有*的結(jié)構(gòu)探頭模塊，可以探測導(dǎo)熱系數(shù)隨著樣品深度的變化，借此TPS 2500 S可以用于如樣品是否均一的檢測。除了以上所有功能外，TPS 2500 S還可以用于大塊固體樣品（與傳統(tǒng)方法相比，如DSC）精確的比熱測試，即使是內(nèi)部結(jié)構(gòu)復(fù)雜的樣品。
TPS 2500 S使用的Hot Disk熱常數(shù)分析軟件可以集成自動測試功能，包括外部設(shè)備的自動溫度控制。軟件還包括將結(jié)果導(dǎo)出到第三方軟件（MS Excel）的功能，可用于額外的數(shù)據(jù)處理或分析。為了準(zhǔn)確和自動的記錄環(huán)境溫度，用戶還可以選用我們提供的PT-100溫度探頭。
技術(shù)指標(biāo)
導(dǎo)熱系數(shù) 0.005至1800W/mk
熱擴(kuò)散系數(shù) 0.01至1200mm2/s
比熱 至5MJ/m3K
測試時(shí)間 1至2560秒
重復(fù)性 通常優(yōu)于1%
精度 優(yōu)于5%
可選溫度范圍 -253 °C至1000 °C
系統(tǒng)主機(jī)溫度 室溫
搭配高溫爐 高至750°C（無氧狀態(tài)1000°C）
搭配循環(huán)浴 -35°C至200°C
電源要求 可適應(yīng)所處國家的要求
最小樣品要求 塊體測試 0.5mm*2mm直徑或邊長
平板測試 0.042mm*8mm直徑或邊長
一維測試 5mm*2.5mm直徑或邊長
薄膜測試 0.01mm*22mm直徑或邊長
滿足ISO 22007-2標(biāo)準(zhǔn)
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