產品類型： 能量色散X熒光光譜分析設備
產品名稱： 鍍層厚度分析儀
型 號： iEDX-150T （可同時具備鍍液/RoHS/成分分析功能）
（一）產品優勢
1.鍍層檢測，檢測層數范圍1-6層；檢測鍍液的元素含量范圍為1ppm－99.99%。
2.全自動操作平臺，平臺移動范圍可達160*160*100mm(X*Y*Z)；
3.激光定位和自動多點測量功能；
4.檢測的樣品可以為固體、液體或粉末；
5.運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環境相對要求低；
6.可進行未知標樣掃描、無標樣定性、半定量分析；
7.操作簡單、精準無損、高品質、高性能、高穩定性，快速檢測（5-40秒）；
8.配置：SDD探測器、牛津X射線管、SPELLMAN高壓電源，儀器使用壽命長。
9.超高分辨率：125±5電子伏特（電子伏特越低分辨率越高，檢測越精準，這是能譜儀一個非常關鍵的技術指標）；
10.可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件；
11.軟件升級；
12.無損檢測，一次性購買標樣可使用；
13.使用安心無憂，售后服務響應時間24H以內，提供保姆式服務；
14.環保RoHS分析功能，實現鍍層、環保和成份分析同時檢測；
15.具有遠程服務功能，在客戶請求的情況下，可遠程進行儀器維護；
16.RoHS規定的元素測試，待測物質的Cd/Cr/Pb/Hg元素，鹵素要求的Cl/Br元素，八大有害重金屬：鉛：Pb、汞：Hg、鎘：Cd、銻：Sb、硒：Se、砷：As、鋇：Ba、鉻：Cr。
（二）產品特征
1.高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）
2.計算機 / MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數字轉換器）
3.Multi Ray. 運用基本參數法（FP）軟件，對樣品進行精確的鍍層厚度分析，可對鍍液進行定量分析。
4.MTFFP (多層薄膜基本參數法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進行薄膜鍍層厚度測量
相對（比）模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
單鍍層應用 [如：Cu/ABS等]
雙鍍層應用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三鍍層應用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四鍍層應用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金鍍層應 [如：Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
5.Multi-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊。可同時分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運算和配給。
Multi-Ray 金屬行業精確定量分析軟件。可同時分析8種元素。最小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內部元素作用分析。金屬分析精度可達±0.02%，貴金屬（8-24 Karat) 分析精度可達±0.05kt
Multi-Ray. 對鍍液進行分析。采用不同的數學計算方法對鍍液中的金屬離子進行測定。含全元素、內部元素、矩陣校正模塊。
6.Multi-Ray WINDOWS 7軟件操作系統
7.完整的統計函數均值、 標準差、 低/高讀數，趨勢線，Cp 和 Cpk 因素等
8. 自動移動平臺，用戶使用預先設定好的程序進行自動樣品測量,自動多點分析。每個階段的文件有最多 25 個不同應用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含*統計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。
（三）軟件界面：鍍層軟件分析圖譜界面
產品名稱： 鍍層厚度分析儀
型 號： iEDX-150T （可同時具備鍍液/RoHS/成分分析功能）
（一）產品優勢
1.鍍層檢測，檢測層數范圍1-6層；檢測鍍液的元素含量范圍為1ppm－99.99%。
2.全自動操作平臺，平臺移動范圍可達160*160*100mm(X*Y*Z)；
3.激光定位和自動多點測量功能；
4.檢測的樣品可以為固體、液體或粉末；
5.運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環境相對要求低；
6.可進行未知標樣掃描、無標樣定性、半定量分析；
7.操作簡單、精準無損、高品質、高性能、高穩定性，快速檢測（5-40秒）；
8.配置：SDD探測器、牛津X射線管、SPELLMAN高壓電源，儀器使用壽命長。
9.超高分辨率：125±5電子伏特（電子伏特越低分辨率越高，檢測越精準，這是能譜儀一個非常關鍵的技術指標）；
10.可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件；
11.軟件升級；
12.無損檢測，一次性購買標樣可使用；
13.使用安心無憂，售后服務響應時間24H以內，提供保姆式服務；
14.環保RoHS分析功能，實現鍍層、環保和成份分析同時檢測；
15.具有遠程服務功能，在客戶請求的情況下，可遠程進行儀器維護；
16.RoHS規定的元素測試，待測物質的Cd/Cr/Pb/Hg元素，鹵素要求的Cl/Br元素，八大有害重金屬：鉛：Pb、汞：Hg、鎘：Cd、銻：Sb、硒：Se、砷：As、鋇：Ba、鉻：Cr。
（二）產品特征
1.高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）
2.計算機 / MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數字轉換器）
3.Multi Ray. 運用基本參數法（FP）軟件，對樣品進行精確的鍍層厚度分析，可對鍍液進行定量分析。
4.MTFFP (多層薄膜基本參數法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進行薄膜鍍層厚度測量
相對（比）模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
單鍍層應用 [如：Cu/ABS等]
雙鍍層應用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三鍍層應用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四鍍層應用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金鍍層應 [如：Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
5.Multi-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊。可同時分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運算和配給。
Multi-Ray 金屬行業精確定量分析軟件。可同時分析8種元素。最小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內部元素作用分析。金屬分析精度可達±0.02%，貴金屬（8-24 Karat) 分析精度可達±0.05kt
Multi-Ray. 對鍍液進行分析。采用不同的數學計算方法對鍍液中的金屬離子進行測定。含全元素、內部元素、矩陣校正模塊。
6.Multi-Ray WINDOWS 7軟件操作系統
7.完整的統計函數均值、 標準差、 低/高讀數，趨勢線，Cp 和 Cpk 因素等
8. 自動移動平臺，用戶使用預先設定好的程序進行自動樣品測量,自動多點分析。每個階段的文件有最多 25 個不同應用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含*統計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。
（三）軟件界面：鍍層軟件分析圖譜界面
