PARMI在線3D AOI
PARMI新一代機型 SIGMA X 系列是技術革新,可引導業界的In Line Solder Paste 檢測設備，相比已有機型具備以下特征:
硬件更小更精致、檢測速度更快、檢測精準度更高、鐳射頭檢測速度上,RSC7比RSC6更快,可保證在同領域中擁有檢測速度。
PARMI在線3D AOI Xceed – New Generation性能介紹： 1：3D AOI 鐳射頭 (TRSC-I) 1-1.雙鐳射光源投射技術，四百萬像素的高解析CMOS鏡頭。 1-2.RGBW LED 光源。 1-3.遠心鏡頭。 1-4.超輕量鐳射, 緊湊型設計。 1-5.業內檢測速度: 65cm2/sec @ 14 x 14umm。 1-6.檢測時間（包含進出板時間）: 以PCB 260mm(L) X 200mm(W) 為基準的檢測時間為10秒。 |
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PARMI在線3D AOI 特點 |
1.檢查程序的基本界面構成與PARMI SPI檢測程序布局類似，現有使用者輕車熟路，初次使用者簡單易學。 |
2.一鍵編程成為可能 單擊該組件所屬類型，其必須的基本檢測項目ROI即可自動生成，無須再度調試即可進行7個項目的檢測。 |
3.基本檢查項目：缺件、引腳翹曲、組件尺寸、組件傾斜、 側翻、立碑、反面。 |
4.提取高度的測量數據，使用者可直觀地檢出在傳統2D AOI上難以檢測的引腳翹曲、組件傾斜等不良。并且針對組件大小、缺件、引腳翹曲、側立、立碑、反面、極性、錯件、焊點、連錫、引腳缺失、引腳板彎、橋接、文字檢查(OCR, OCV)、色環電阻、pin等等所有不良類型，均可檢出。 |
5.Xceed 3D AOI——*光學檢測設備,在世界電子行業它經已獲得廣泛認可。無論是在檢查覆蓋率、靈活性、可支持性以及編程方法等方面，Xceed 3D AOI皆可發揮其的協同作用。Xceed 3D AOI檢測范圍廣泛，覆蓋焊點缺陷、低對比元件位置、錯件檢查等。 |
