8425霍爾效應及低溫探針臺集成系統

● 在真空探針臺下進行完整的霍爾效應測試的系統

● 支持一系列直流條件下霍爾效應測試

● 磁場2T,電阻范圍0.5mΩ-100GΩ

● 變溫范圍10k-400k，采用閉循環制冷機制冷，不需要消耗制冷劑

● 包含8400軟件，可以做簡單的系統操作、數據采集和分析

● 支持多載流子分析數據導出

晶片級材料在嚴格控制的低溫環境下的無損霍爾測量

*材料的研究

具備Lake shore*霍爾測量能力的8425是應用物理、電氣工程、材料研究、產品研發與運用的理想工具，它可以測量新材料的電子和磁運輸特性，包括：

太陽能電池 OPVs, a:Si, μc-Si, CdTe, CuInGaSe (CIGS)

有機電子 OTFTs, Penactene, Chalcogenides,OLEDs

Ⅲ-Ⅴ族半導體 InP, InSb, InAs, GaN, GaP, GaSb, 基于AIN的設備，HEMTs, 異質結雙極晶體管

Ⅱ-Ⅳ族半導體 CdS, CdSe, ZnS, ZnSe, ZnTe, HgCdTe

元素半導體 Ge, SOI, SiC, HBTs and FETs

高溫超導體

直接或間接測量的磁場和溫度函數

霍爾電壓

Ⅳ曲線的測量

電阻

磁阻

磁傳輸

霍爾系數

霍爾遷移率

反常霍爾效應

載流子類型/濃度/密度