CSK-IA和CSK-IB試塊的主要用途
該試塊主要用于測定探傷儀、探頭及的組合性能
兩個試塊的主要區別在于：CSK-IB試塊在原有CSK-IA的基礎上增加了測試斜探頭折射角的刻度面。
使用要點：
1)利用厚度25mm測定探傷儀的水平線性、垂直線性和動態范圍；
2)利用厚度25mm和高度100mm調整縱波探測范圍；
3)利用R50和R100校定時基線或測定斜探頭的入射點；
4)利用高度85、91、100ram測定直探頭的分辨力；
5)利用中40、中44、中50ram曲面測定斜探頭的分辨力；
6)利用中50有機玻璃圓孔測定直探頭盲區和穿透能力；
7)利用中50曲面和巾1．5橫孔測定斜探頭的K值；
8)利用高度9lmm(縱波聲程9lmm相當于橫波50mm)調節橫波1：1掃描速度，配合R100作零位校正；
9)、利用試塊直角棱邊測定斜探頭的聲軸偏斜角。
CSK-IA超聲波探傷標準試塊
CSK－1B試塊校準斜探頭的步驟
1．輸入材料聲速：3230m/s 2. 探頭前沿校準 (1)如圖1所示，將探頭放在CSK－1B標準試塊的0位上
2．前后探頭，使試塊R100圓弧面的回波幅度*高，回波幅度不要超出屏幕，否則需要減小增益。
3．當回波幅度達到*高時，保持探頭不動，在與試塊“0”刻度對應的探頭側面作好標記，這點就是波束的入射點，從探頭刻度尺上直接讀出試塊“0”刻度所對應的刻度值，即為探頭的前沿值。(或用刻度尺測量圖1所示L值，前沿x=100-L。)， 將探頭前沿值輸入“探頭”功能內的“探頭前沿”中，探頭前沿測定完畢。
