詳細描述
TT230氧化膜測厚儀采用渦流法測量原理，是一種超小型的測量儀，它能快速、無損傷、精頦地進行非磁性金屬基體上非導電覆層厚度的測量。可廣泛用于制造業、金屬加工業、商檢等檢測領域。儀器體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。
主要功能：
可進行零點校準及二點校準。
可對測頭進行基本校準。
設有五個統計量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測試次數（NO）、標準偏差（S.DEV）。可存貯和統計計算15個測量值。
具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）。
自動關機功能。
刪除功能：對測量中出現的單次可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量。
操作過程有蜂鳴聲提示。
有欠壓指示功能。
有錯誤提示功能。
技術指標：
測量原理：渦流法
測量范圍：1～1250μm
測量精度：±（3%H+1.5）μm（零點校準）
±[(1～3)%H+1.5] μm（二點校準）
標準配置
TT230主機（含測頭） 1臺
標準片 5片
鋁基體 1塊
充電器 1個
