品名：X射線熒光鍍層厚度測量FT9500
型號：FT9500系列
概要：X射線發生系統為X射線聚焦光學系統（聚焦導管）與X射線源相結合，并且可以照射出實際照射直徑為0.1mmφ以下高強度的X射線束。為此，可以對以往X射線熒光鍍層厚度測量儀由于照射強度不足而無法得到理想精度的導線架、插接頭、柔性線路板等微小部件及薄膜進行測量。同時搭載高計數率、高分辨率的半導體檢測器，在測量鍍層厚度的同時，也能對RoHS、ELV、中國版RoHS等法規所管制的有害物質進行分析測量。
特長
1.X射線發生系統采用了聚光導管由于采用了X射線聚光導管方式，可得到以往十倍以上的X射線強度，從而可以提高微小樣品的膜厚測量及有害物質測量的精度。
2.無需液氮的半導體檢測器在進行薄膜測量與有害物質的濃度測量時，高分辨率的檢測器是的。SFT9500的檢測器不但可以達到高分辨率，而且可以實現高計數率。同時，由于使用了電子冷卻方式，所以無需液氮。
3.能譜匹配軟件（選配件）可瞬間識別未知樣品與事先存檔的X射線能譜庫中哪一個樣品較為接近的軟件。對識別材料十分有效。
4.塊體檢量線軟件（適用于電鍍液分析）（選配件）可簡單地測量出電鍍液中主要金屬的濃度。
5.繪圖軟件（選配件）將元素面分析的結果進行等高線和色彩使用等視覺處理的軟件。
6.電鍍液容器（選配件）
7.各種標準物質（選配件）
［主要產品規格］
可測量元素原子序數13(Al)～83(Bi)
X射線聚光聚光方式X射線源
管電壓50kV
管電流1mA
檢測器Vortex®檢測器(無需液氮)
分析范圍Φ0.1mm、Φ5mm
樣品觀察彩色CCD攝像頭（附變焦功能）
濾波器3種模式自動切換
樣品平臺175(W)×240(D)mm
移動量X：220mmY：150mmZ：150mm
載重量10kg
重量123kg(不含電腦)
X-rayStation臺式電腦19"LCD(OS;Microsoft-WindowsXP®)
膜厚測量軟件薄膜FP法（最多五層，各層十種元素）
檢量線法（單層、雙層、合金膜厚成分）
定量分析功能塊體FP法
統計處理功能Microsoft-EXCEL
報告制作Microsoft-WORD
安裝環境溫度：10℃～35℃(±)5℃
濕度：35%～80%
使用電源接地三頭插座AC100、15A