超聲波探傷儀校準(zhǔn)試塊
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長度;2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭
超聲波探傷儀校準(zhǔn)試塊
CSK-IA 試塊是我國承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn) NB/T47013 中 規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊
CSK-IA 試塊使用說明及測試方法
水平線性(時(shí)基線性)的檢驗(yàn)
水平線性又稱時(shí)基線性，或掃描線性。是指輸入到超聲檢測儀中的不 同回波的時(shí)間間隔與超聲檢測儀顯示屏?xí)r基線上回波的間隔成正比關(guān)系的 程度。水平線性影響缺陷位置確定的準(zhǔn)確度。水平線性的測試可利用任何 表面光滑、厚度適當(dāng)，并具有兩個(gè)相互平行的大平面的試塊，用縱波直探 頭獲得多次回波，并將規(guī)定次數(shù)的兩個(gè)回波調(diào)整到與兩端的規(guī)定刻度線對 齊，之后，觀察其他的反射回波位置與水平刻度線相重合的情況。其測試 步驟如下:
(1)將直探頭置于 CSK-IA 試塊上，對準(zhǔn) 25mm 厚的大平底面， 如圖 a 所示
(2)調(diào)整微調(diào)、水平或脈沖移位等旋鈕，使示波屏上出現(xiàn)五次底波 B1 到 B5，且使 B1 對準(zhǔn) 2.0，B5 對準(zhǔn)10.0，如圖 b 所示
(3)觀察和記錄 B2、B3、B4 與水平刻度值 4.0、6.0、8.0 的偏差 值 a2、a3、a4。
(4)計(jì)算水平誤差:公式
式中，amax——a2，a3，a4 中Z大者 b——示波屏水平滿刻度值
調(diào)整橫波掃描速度和探測范圍
由于縱波的聲程 91mm 相當(dāng)于橫波聲程 50mm，因此可以利用試塊 上 91mm 來調(diào)整橫波的檢測范圍和掃描速度。例如橫波 1:1，先用直探頭 對準(zhǔn) 91 底面，是 B1、B2 分別對準(zhǔn) 50、100，然后換上橫波探頭并對準(zhǔn) R100 圓弧面，找到回波，并調(diào)至 100 即可。
測定儀器與直探頭遠(yuǎn)場分辨力
(1)抑制旋鈕調(diào)至“0”，探頭置于如圖所示位置，左右移動(dòng)探頭， 使顯示屏上出現(xiàn) 85、91、100 三個(gè)反射回波A、B、C 如圖所示，則波峰 和波谷的分貝差 20Lg(a/b) 表示分辨力。
(2)NB/T47013-2015 中規(guī)定，直探頭遠(yuǎn)場分辨力大于等于 20dB。
盲區(qū)的估計(jì)
盲區(qū)是指Z小的探測距離，測試方法是:將直探頭置于探頭位置圖中 D、 E 位置，測量 50mm 圓孔反射波。從而可以估計(jì)出盲區(qū)小于等于 5mm 或 大于等于 10mm，或者介于兩者之間。
Z大穿透能力估計(jì)
將直探頭置于探頭位置圖中 F 位置，將儀器個(gè)靈敏度旋鈕均置于Z大， 測試試塊中有機(jī)玻璃塊反射波次數(shù)和Z后一次反射波高度。以此來估計(jì)Z 大穿透力，借以比較探傷儀器及探頭組合性能隨時(shí)間變化的情況。
探測靈敏度的調(diào)整
根據(jù) AVG 原理，在探頭探傷時(shí)可把 R100mm 圓弧面視為大平底反射， 以此來調(diào)整探測靈敏度。直探頭探傷時(shí)可把厚度為 25/100mm 的幾個(gè)側(cè)面 視為大平底處理，以此來調(diào)整靈敏度。另外，也可以根據(jù)探傷要求，儀測 量 1.5mm橫通孔反射波來確定靈敏度。
超聲波探傷儀校準(zhǔn)試塊
