離子遷移測(cè)試裝置（CAF）（Ion Migration Test Device）用于測(cè)試電子產(chǎn)品中的材料是否存在離子遷移現(xiàn)象。其原理是在加速電場(chǎng)的作用下，使樣品中的離子遷移到對(duì)面的電極上，從而檢測(cè)出樣品中是否存在離子遷移。
通常該裝置由兩個(gè)電極、電源、電壓控制器和采樣器等部分組成。樣品被放置在兩個(gè)電極之間，然后施加電場(chǎng)并記錄電流隨時(shí)間的變化情況。如果電流隨時(shí)間逐漸增加，則說明樣品中可能存在離子遷移現(xiàn)象。
離子遷移測(cè)試裝置（CAF）主要用于評(píng)估電子產(chǎn)品中使用的材料是否能夠滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和法規(guī)的要求，以確保產(chǎn)品的可靠性和耐久性。
ECM-100離子遷移測(cè)試裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～1000 小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ）。
ECM-100離子遷移測(cè)試裝置產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
簡(jiǎn)單/便利
△采用驅(qū)動(dòng)計(jì)測(cè)，測(cè)試時(shí)焊接工序大幅減少。
△軟件設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單明了，能夠非常直觀得操作。
△配有過程中的記錄、報(bào)告相關(guān)的報(bào)表功能。
△測(cè)試中，設(shè)備可以單獨(dú)運(yùn)行，電腦電源切斷也不受影響。
高性能&高機(jī)能
△因?yàn)槊總€(gè)通道都單獨(dú)配有電壓/計(jì)測(cè)電路，可以做到16ms的計(jì)測(cè)間隔。
→遷移現(xiàn)象的檢測(cè)能力更高，對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)把控更精準(zhǔn)。
△一臺(tái)電腦可以增設(shè)400通道。
△每個(gè)通道可以設(shè)定不同的電壓。
可靠性更高&操作更簡(jiǎn)潔
△具有自身診斷機(jī)能，把異常計(jì)測(cè)防范于未然。
△配有CF卡，以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。
△每個(gè)單元獨(dú)立，其中一個(gè)單元損壞，可以單獨(dú)拆卸維修，而不影響其他通道使用。
△標(biāo)準(zhǔn)配置也可以接入1~300V的電壓范圍。
用途
△PCB板、焊接、樹脂、導(dǎo)電性粘著劑、絕緣材料等電遷移測(cè)試。
△作為高性能/多通道絕緣電阻測(cè)試裝置，可以在多領(lǐng)域利用。
實(shí)例
△測(cè)試難度大的高阻值也能除去干擾，清晰得進(jìn)行測(cè)試。
△16msec的高速抽樣處理，不會(huì)漏掉任何一個(gè)數(shù)據(jù)。
△電容器等絕緣電阻的試驗(yàn)也非常合適。
離子遷移測(cè)試裝置
