1.采用美國原裝電致冷高性能Si-PIN探測器，分辨率高，探測范圍寬,涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規材料分析的基本要求。
2. 配置的DPP數字多道信號集成處理器，比普通模擬多道信號處理器性能更佳，尤其在高計數率時有更好的分辨力(如Hg和Cl等)，高達80MHz的數據傳輸速度使分析時間更短，測量重復性和長期穩定性更好。
3. 內置高清攝像系統，清晰觀察樣品，準確定位樣品測試區域。
4. 配套的FP測量軟件，集成多種譜圖處理算法和基體校正算法，有效降低儀器測量中的各種干擾譜峰，使低含量和痕量元素的檢測結果更加準確，更加接近真值水平。
技術參數：
1. 分析范圍:硫（S）－鈾（U）
Measurable elements：S-U
2. 含量范圍:2ppm-99.99％
Element content: 2ppm-99.99％
3. 測量時間:50-300秒(可調)
Measurement time 50-300s（adjustable）
4. 能量分辨率:149±5eV
Resolution: 149±5eV
5. 高壓電源功率:50W
High voltage power supply power：50W
6. 樣品腔尺寸: 610mm×320mm×100mm
Sample chamber size : 610mm×320mm×100mm
應用領域
RoHS、鹵素環保指令
鍍層厚度測試
合金分析（銅合金不銹鋼等）
