日本J-RAS離子遷移測試裝置
追求高性能、高信賴性、高便利性的系統構成。
ECM-100是可以單獨試驗的ALL-IN-ONE檢測系統，并且重要的試驗數據被保存到CF存儲卡。
作為系統構成我們準備了40CH/100CH型，可以根據您的預算、設置空間來進行選擇。
高機能
*用PC設定試驗條件之后，就可以不使用PC來繼續進行試驗。
*使用ECM-100主機就可對HAST/試驗槽進行自動控制，試驗狀況可以用ECM-100進行變更/監視。
*HAST/試驗槽的開門功能等的聯動裝置功能也是標準裝備的
*沒有通信機能的HAST/試驗槽，也可以通過模擬輸入來監視濕度
產品優勢
簡單/便利
△采用高性能驅動計測，測試時焊接工序大幅減少。
△軟件設計簡單明了，能夠非常直觀得操作。
△配有過程中的記錄、報告相關的報表功能。
△測試中，設備可以單獨運行，電腦電源切斷也不受影響。
高性能&高機能
△因為每個通道都單獨配有電壓/計測電路，可以做到16ms的計測間隔。
→遷移現象的檢測能力更高，對產品品質把控更精準。
△一臺電腦最大可以增設400通道。
△每個通道可以設定不同的電壓。
可靠性更高&操作更簡潔
△具有自身診斷機能，把異常計測防范于未然。
△配有CF卡，以防設備故障數據丟失。
△每個單元獨立，其中一個單元損壞，可以單獨拆卸維修，而不影響其他通道使用。
△標準配置也可以接入1~300V的電壓范圍。
用途
△PCB板、焊接、樹脂、導電性粘著劑、絕緣材料等電遷移測試。
△作為高性能/多通道絕緣電阻測試裝置，可以在多領域利用。
實例
△測試難度大的高阻值也能除去干擾，清晰得進行測試。
△16msec的高速抽樣處理，不會漏掉任何一個數據。
△電容器等絕緣電阻的試驗也非常合適。
| 計測Channel數 | 10CH | ||
| 計測電阻值范圍 | 2kΩ~10TΩ | ||
| DCbias印加 | 電壓范圍 | 2范圍 （1.0～30.0V，30.1～300.0V） | |
| 電壓范圍設定 | 1組（5CH） | ||
| 電壓級別設定 | Channel個別 | ||
| 設定分解能 | 0.1V | ||
| 設定精度 | ±｛0.3%（F.S.）+0.5｝V | ||
| 最大輸出電流 | 700μA/CH | ||
| DCbias計測 | 計測范圍 | 2范圍 （0～33V，0～330V） | |
| 計測精度 | ±｛0.3%（F.S.）+0.5｝V | ||
| 計測分解能 | 0.1V～（整數+小數點以下1行表示） | ||
| AD轉換器 | 24bits⊿∑AD轉換器/CH | ||
| 計測速度 | 16msec/10CH | ||
| 電流計測 | 計測方式 | CHANNEL個別HIGH-SIDE電流計測方式 | |
| 計測范圍 | 5范圍（～500μA，～50μA，～2.5μA，～125nA，～6.25nA） | ||
| 計測范圍設定 | CHANNEL個別或者自動范圍 | ||
| 計測精度 | ±0.3%（F.S.） | ||
| 計測分解能 | 1pA～（有效數字4行表示） | ||
| AD轉換器 | 24bits⊿∑AD轉換器/CH | ||
| 計測速度 | 16msec/100CH | ||
| 制御Channel數 | 5～100CH（5Channel單位） | ||
| 數據收錄 | 試驗制御單位 | 1組（5CH） | |
| 試驗設定小時 | 1分～9999小時 | ||
| 收錄間隔（定期） | 1分～60分 | ||
| 收錄間隔（ECM發生時） | 16msec | ||
| 收錄媒體 | Compact flashcard | ||
| 其他 | 主PC通信機能 | LAN接觸口×1 | |
| 環境試驗機通信機能 | RS-232C接觸口×2 | ||
| 外部輸入1 | 接點輸入×4（聯動裝置，緊急停止制御可） | ||
| 外部輸入2 | 電壓輸入（1-5V）×2，電流輸入（4-20mA）×2（溫度·溫度記錄可） | ||
| 自動校正 | bias輸出補正，異常leak電流檢測 | ||
