多片OLED器件IVL測量主要應用于OLED材料和OLED屏體生產廠家，滿足客戶大批量的OLED器件的IVL特性和亮度視角特性測試需求。
OLED發光器件的IVL測試，如電流密度、電壓、電流效率、流明效率、1931色坐標、亮度、QE、光譜、電流、1976色坐標，并可選配底板加熱，進行*定高溫下的對應測試。
多片OLED器件IVL測量
主要應用于OLED材料和OLED屏體生產廠家，滿足客戶大批量的OLED器件的IVL特性和亮度視角特性測試需求。
OLED發光器件的IVL測試，如電流密度、電壓、電流效率、流明效率、1931色坐標、亮度、QE、光譜、電流、1976色坐標，并可選配底板加熱，進行預定的高溫下的對應測試。
多種機型可選，工位靈活配置。
系統特點
1.大批量器件的測試
系統配有多通道電路選擇器，可支持多達24片共96個發光點的OLED器件依次點亮測試（具體器件和發光點數量可定制）。測試前可預點亮所有發光點以確認器件是否均正常。
2.發光區域中心自動對位識別
工業視覺對位CCD自動識別發光點位置，不管是垂直測IVL還是旋轉器件測視角亮度，始終保證測量點對準發光區域中心
3.大視角范圍測試
即使是3*3mm的發光點，在測視角時仍可以滿足75度視角以上的測試要求。同時工業視覺對位相機可修正旋轉時產生的測量點偏差，保證大視角下測量點依然對準器件發光中心
4.溫度套件擴展
每片治具可選溫度控制套件，包括加熱套件（溫控范圍RT-120℃）和加熱制冷套件（溫控范圍：-20-100℃）特殊溫度范圍可定制
5.光譜儀的高速測量
為節省低輝度下的光譜儀測量時間，弗士達支持CS-2000A的高速Dll模式并對其優化，以實現亮度大量程和快速測量的*美結合，以節省測量時間，提高機臺的測試效率
