品牌：久濱
型號：JB-T180
名稱：顯微圖像粒度儀
一、產(chǎn)品概述：
JB-T180是國內(nèi)新一代靜態(tài)顆粒圖像分析設(shè)備，它采用新的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件，將計算機圖像學與顆粒粒度及粒形分析理論完美結(jié)合，在獲得清晰的顆粒圖像的同時，將顆粒的粒度、球型度、長徑比、龐大率、表面率等相關(guān)顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來，使用戶可以詳細的了解顆粒。此外，該款儀器還賦予了自動化、智能化能時代性的標志、使其操作更簡便、分析更智能、結(jié)果更穩(wěn)定，是顆粒粒度測試及粒形分析的搭檔和得力助手。
二、性能特點：
1.直觀反映顆粒形貌 將顆粒的表面形貌直接反映到計算機屏幕，用戶可以直觀且全面了解顆粒的表面及形狀屬性；
2.完美拼接多幅圖像 將選取不同視場拍攝的多幅顆粒圖像拼接成一幅，使參與分析的顆粒數(shù)量更多，測試結(jié)果更具代表性；
3.自適應二值化功能 采用一種自適應二值化功能，使其進行圖像二值化處理時不受拍攝光線的影響，避免了因光線不均勻等因素而導致顆粒信息丟失的情況，為后續(xù)處理的精準度奠定基礎(chǔ)；
4.自動處理顆粒圖像 顆粒圖像分析軟件含有自動處理工具集，集成了二值化、消除邊界不完整顆粒、消除雜點、填充空洞、平滑邊緣、分割粘連顆粒、計算顆粒參數(shù)等功能的自動操作，一鍵即可完成顆粒圖像處理到分析結(jié)果的生成等全部過程，操作簡便且結(jié)果可靠；
5.自由切換粒徑單位 標尺選取支持多種長度單位、可在納米、微米和毫米之間自由切換，便于用戶對通過電鏡等其他方式獲取的顆粒圖片實現(xiàn)進一步處理；
6.快速處理特殊形狀顆粒 對于球形顆粒，采用*的處理算法，對原始圖片無需進行任何處理而直接分析顆粒粒徑信息，即使顆粒顆粒之間相互粘連或重疊也不會影響分析結(jié)果，提高球形顆粒的分析效率。
三、適用范圍:
JB-T180靜態(tài)顆粒圖像儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、樹脂、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)。
四、技術(shù)參數(shù)：
1.規(guī)格型號：JB-T180
2.執(zhí)行標準：ISO13322-1: 2004; GB/T21649.1-2008
3.顯微系統(tǒng)：物鏡：4X、10X、40X、60X、100X（油）長距消色差（平場）物鏡組
目鏡：1X、10X、16X 大視野攝像目鏡
載物臺：手動三維機械式載物臺，尺寸：185mm×140mm，
移動范圍：50mm×75mm，粗微同軸調(diào)焦，
微動格值：2μm,帶鎖緊和限位裝置
光源：底部透射光源，6V 20W鹵素燈,亮度可調(diào)。可選頂部金相落射式光源（帶起偏振器）總放大倍數(shù)：4倍——1600倍
4.攝像系統(tǒng)：分辨率：2048×1536
像素尺寸：3.2μm×3.2μm
成像元件：1/1.8英寸 progress scan CMOS
幀率：6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480
清晰度：900線
信噪比：小于42dB
敏感度：1.0V@550nm/lux/S
輸出方式：USB2.0
實際觀測范圍：1-6000μm
5.軟件功能：靜態(tài)采集：將樣品形貌拍攝為高清晰JPG圖片
圖片處理：使用多種畫圖工具對圖片進行比較簡單的處理
圖像拼接：將多幅圖片進行無縫拼接,在顆粒測試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測試的代表性。同時也可單張分析保存后再進行拼接，進一步提高了結(jié)果的準確性。
顆粒的自動處理工具集：自動消除顆粒粘連、自動消除雜點、自動消除邊界不完整顆粒、自動*顆粒的空心區(qū)域、自動平滑顆粒邊緣等12項自動處理工具。
比例尺標定：通過國家標準測微尺標定后，每次測試只須選擇與物鏡相對應的比例尺數(shù)值即可直接得到顆粒的實際大小數(shù)值。
單個顆粒數(shù)據(jù)：可在圖片上直接對單個顆粒進行截面積、體積、長徑比等10多項參數(shù)的分析。
任務管理機制：嚴格的任務管理機制，使用戶能夠?qū)⑺袦y試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來。
報告輸出：將測試結(jié)果輸出為報告，并可以自由修改報告樣式。
整體分布特征參數(shù)：D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù)
6.報告參數(shù)：整體頻率分布累計分布：顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計分布的數(shù)據(jù)表、曲線圖、柱狀圖等。
統(tǒng)計平均徑：Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計平均徑
形狀參數(shù)：長徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項常用數(shù)據(jù)
個數(shù)統(tǒng)計：直接得到所觀測的顆粒數(shù)量
樣品縮略圖：可以將樣品彩色或黑白（可選擇）縮略圖顯示到報告中
表頭輸入：可以將樣品名稱、測試單位、分散介質(zhì)等多項信息輸入到報告表頭中
