成立于1819年，Jobin Yvon公司的總部設在高科技發達的法國首都――巴黎。在近二百年的發展中，Jobin Yvon公司始終遵循著創建以來的一貫宗旨――高品質，使公司一直處于世界光柵及光譜儀生產的較地位。
自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor，Sofie等公司后，Jobin Yvon公司于1997年加入了*六大儀器制造集團――Horiba公司，完成了公司強強聯手。如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設有生產廠家，其分支機構遍布。現在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外，還提供各種類型的光譜儀產品，如：激光拉曼光譜儀（Raman），熒光（壽命）光譜儀（FL），直讀火花光譜儀（SPARK），電感耦合等離子發射光譜儀（ICP），輝光放電光譜儀（GDS），橢圓偏振光譜儀（Ellipsometry），特殊搭建系統（System）及各種光學光譜器件（成像光譜儀，光源，IR檢測器，CCD檢測器等）。目前，HORIBA Jobin Yvon公司設立了薄膜部、拉曼（光譜儀）部、發射（光譜儀）部、熒光（光譜儀）部、法醫部、光學儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強大的技術支持與科研保障。
用途：
JY 輝光光譜儀- GD-PROFILER能夠對固體樣品的（包括導電性及非導電性材料）進行表面逐層分析，界面分析及樣品整體成分分析，而且具有這些分析所需的高靈敏度和高的深度分辨率。
• 化學熱處理 – 碳化、氮化、碳氮化等 。
• 鍍鋅板（熱鍍鋅、鋅鐵合金化、鋅鋁合金化等）。
• 鍍錫板、磷化、鉻化等。
• PVD / CVD 涂層等。
• 鋁、鉛復層
• 薄的有機膜涂層
• 彩涂板
• 半導體、太陽能電池、玻璃、陶磁
技術參數：
GD-Profiler 系列包括2 種型號，全部裝備RF 射頻光源，每種型號均有多種選配件，用于滿足不同用戶的測試要求和預算。GD-Profiler2 可測試多種樣品，有著*的性價比，GD-Profiler HR 是目前商品化的輝光光譜儀中性能較高的，二者均可分析導體和非導體的固體樣品。廣泛應用于傳統的鍍鋅/錫板（彩涂板）、汽車工業、航空航天、熱處理（滲碳/滲氮）、陶瓷工業、玻璃工業、表面污染以及當前在歐美和日本科研與工業對半導體電子（液晶面板/硬盤/芯片）、新能源（鋰電池/LED/光伏）研究與分析應用可以替代原來只能依賴的SIMS(二次離子質譜)或XPS（光電子能譜儀）。與其相比之下GDS 做到更高效、更快速、更經濟等多方面優勢，受到越來越多的科研工作者的認可與青睞，刮起一股從西方到東方席卷的輝光新風尚。
*RF 射頻發生器- 標準配置，符合E 級標準，穩定性高，濺射束斑極為平坦，等離子體穩定時間極短，表面信息無任何失真。
*脈沖工作模式既可分析常見的涂、鍍層和薄膜，也可以很好的分析熱傳導性能差和熱易碎的涂、鍍層和薄膜。
*多道(同時)型光學系統可全譜覆蓋，光譜范圍：110nm 至800nm，包含遠紫外，可分析C, H, O, N, Cl
*HDD® 檢測器可進行快速而高靈敏的檢測，動態范圍達到10 個量級
*寬大的樣品室方便各類樣品的加載
*功能強大的QUANTUMT XP 軟件可以多種格式靈活方便的輸出檢測報告
*激光指點器(CenterLite laser pointer)可用于精確定位
*Jobin Yvon *的單色儀(選配件)可*的提高儀器的靈活性，可同時測定N+1 個元素
主要特點：
Jobin Yvon 所生產的輝光放電發射光譜儀(RF-GD-OES)采用射頻(RF)光源，可以進行導體和非導體材料的基體、表面、逐層分析，是一種快速的、操作簡單的分析手段。
GDS 是一種理想的表面、逐層分析工具，分析深度高達幾百微米，深度分辨率可精確至原子層。Jobin Yvon 所生產的輝光放電光譜儀(GD)全部采用技術的HDD(High Dynamic range Detection)檢測器，可以實時、自動優化工作參數，在靈敏度和動態范圍不受任何損失的情況下，一個分析通道就能*同一元素在不同層面內微量和主量的測定。
GD-Profiler2 可以快速、同時分析七十余種元素，包括氮、氧、氫和氯元素，是一種用于薄膜(包括涂層、鍍層、滲層等)成份和工藝分析的理想工具。
GD-Profiler2 采用脈沖工作模式的RF 光源，可以有效地分析熱傳導性能差和熱敏感的樣品。應用領域包括腐蝕與防腐、PVD、CVD、過程控制，也可用于日常的金屬和合金的產品質量控制與檢測。
