型號規格

TESA Hite

400

700

測量范圍

mm

415

715

應用范圍配標準附件 配訂貨號的測頭座 配訂貨號S的測頭座 

mm 

 570 625 795

 870 925 1095

允許誤差

(2.5+4L)μm,(L單位為米/L in m)

重復性(帶標準附件)

±2s≤2μm

運動速度

500 mm/s

測量力(聲音信號)

1.5±0.5N

電源

6V 可充電電池

一次充電工作時間

60h

微調裝置

√

測頭鎖定

√

機械垂直度(μm)

<10

<15

主機重量(kg)

27

32

描述

在同一個方向上進行長度測量(測量模式1), 無須考慮測頭直徑

在上下方向上進行長度測量(測量模式2), 要考慮測頭直徑

<連續性>顯示測量(測量模式3)

在測量模式2狀態下顯示出上兩次觸測值的差值

在測量模式1和模式2狀態下顯示出上兩次顯示值的差值

在測量模式2狀態下, 通過兩次觸測來建立基準點,以獲得各種長度和位置坐標

在測量模式2狀態下, 通過一次觸測來建立基準點,以獲得各種長度測量

在測量模式1, 2和3狀態下建立新的基準點

在測量模式1, 2和3狀態下, 予置數輸入

自動將測量數據傳輸給外設

確認并記錄數據在儀器存儲器中

增位測量, 表示找到點(測內外直徑時使用)

減位測量, 表示找到點(測內外直徑時使用)

每按一下,即將讀數傳給外設

公英制單位轉換

取消上一次功能或測量選擇

儀器開關鍵, 當面板后部的設置鍵3置為ON時,儀器在停止使用達16分鐘時會自動

維修美國NanoMap-PS臺階儀

維修美國NanoMap-PS臺階儀

【探針接觸式輪廓儀】臺階儀,全新美國進口臺階儀 性價比高

NanoMap-PS是一款專門為nm級薄膜測量研發的無需防震臺即可測量的接觸式臺階儀

AFM同款位移傳感器，超高精度

壓電陶瓷驅動掃描，無內源振動

自集成主動反饋式防震系統

真正無需額外輔助防震系統，實現高重復性納米測量

納米量級科學研究的*產品

NanoMap-PS臺階儀可以應用在半導體，光伏/太陽能，光電子，化合物半導體，OLED，生物醫藥，PCB封裝等領域的薄膜厚度，臺階高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），劃痕深度，磨損深度，薄膜應力（曲定量率半徑法）等定量測量方面。其高精度，高重復性，自動探索樣品表面，自動測量深受廣大客戶歡迎。

測量表面可以覆蓋多種材料表面：金屬材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等，對于植物表面，生物材料，聚合物表面，光刻膠等“柔軟表面”也可測量無須擔心劃傷或破壞。設備傳感器精度高，穩定性好。熱噪聲是同類產品的。垂直分辨率可達0.1nm。可測表面，包括透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料，金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發、牙齒等；
 AEP的技術日新月異。欲了解新的產品性能參數。

主要參數 :  

垂直分辨率            0.1nm

垂直量程        1000um
探針接觸力            0.03mg-100mg

平臺范圍             直徑150毫米（可選200毫米或更大）
高清圖像               4級放大，彩色CCD
成像光源               雙長壽命強光LED

金剛石探針            0.5um到25um可選