YH252手持式涂層測厚儀(一體雙用)
規(guī)格參數(shù):
| YH252（雙用） | ||
| 測頭類型 | F1和N1 | |
| 工作原理 | 磁感應(yīng)和電渦流 | |
| 測量范圍 | 0~1250μm | |
| 低限分辨率 | 1μm | |
| 示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn) | ±（3%H+1） |
| 二點(diǎn)校準(zhǔn) | ±[（1~3%)H+1] | |
| 測 試 條 件 | 小曲率半徑mm | 凸1.5、凹9 |
| 小面積直徑mm | Φ7 | |
| 基本臨界厚度mm | 0.5 | |
| 工作環(huán)境 | 溫度 | 0~40℃ |
| 濕度 | 20%~90% | |
| 磁場 | 無強(qiáng)磁場環(huán)境 | |
| 電源 | AAA型堿性電池1.5V兩節(jié) | |
| 外形尺寸 | 150×55.5×23mm（主機(jī)） | |
| 重量 | 120g | |
| 標(biāo)準(zhǔn)配置 | 主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、AA型堿性電池 | |
YH-252涂層測厚儀功能與特點(diǎn):
- 采用了磁性測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性；
覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)； - 可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
- 具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
- 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)；
- 具有米、英制轉(zhuǎn)換功能；
- 具有欠壓指示功能；
- 操作過程有蜂鳴聲提示；
- 具有錯誤提示功能；
- 具有自動關(guān)機(jī)功能。
| 涂層測厚儀 | YH-252 |
| 標(biāo)準(zhǔn)配置 |
|
YH252涂層測厚儀其它說明
涂層測厚儀·探頭參數(shù)表
| 探頭 | F400 | F1 | F1/90 | F10 | N1 | CN02 | |
| 工作原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | |||||
| 測量范圍（um） | 0-400 | 0-1250 | 0-10000 | 0-1250(銅上鍍鉻0-40um) | 10-200 | ||
| 低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | 10 | 0.1 | 1 | ||
| 示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[3%H+1] | ±[3%H+10] | ±[3%H+1.5] | ±[3%H+1] | ||
| 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[(1～3)%H+0.7] | ±[(1～3)%H+1] | ±[(1～3)%H+10] | ±[(1～3)%H+1.5] | - | ||
| 測量條件 | 小曲率半徑(mm) | 凸 1 | 凸1.5 | 平直 | 10 | 3 | 平直 |
| 基體小面積的直徑(mm) | ф3 | ф7 | ф7 | ф40 | ф5 | ф7 | |
| 小臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | 無限制 | |
| 基體與覆蓋層 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層 (如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等) | 非磁性的有色金屬覆蓋層 (如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等) | |||
| 覆蓋層厚度 不超過100µm | 覆蓋層厚度 超過100µm | 覆蓋層厚度 不超過100µm | 覆蓋層厚度 超過100µm | ||
| 磁性金屬 如 鐵、鋼 等 | 被測面積的直徑 大于30mm | F400 型測頭 0～400µm F1 型測頭 0～1250µm | F1 型測頭 0～1250µm F10 型測頭 0～10mm | F400 型測頭 0～400µm F1 型測頭 0～1250µm | F1 型測頭 0～1250µm F10 型測頭 0～10mm |
| 被測面積的直徑 小于30mm | F400 型測頭 0～400µm | F400 型測頭 0～400µm F1 型測頭 0～1250µm | F400 型測頭 0～400µm | F400 型測頭 0～400µm F1 型測頭 0～1250µm | |
| 有色金屬 如銅 、鋁 、黃銅 、鋅 、錫 等 | 被測面積的直徑 大于5mm | N1 型測頭 0～1250µm | 僅用于銅上鍍鉻N1 型測頭 0～40µm | ||
| 非金屬基體 塑料、印刷線路 | 被測面積的直徑 大于7mm | - | - | CN02 型測頭10～200µm | |
