AV-40G微波介質材料電磁特性參數測試系統的詳細資料：

 AV-40G型微波介質材料電磁特性參數測試系統

關鍵詞：微波，介質材料電磁，磁導率，電、磁損耗角正切 ，同軸空氣

一、產品介紹：

微波介質材料目前已經廣泛應用于航空航天、微波通信、隱身技術、微波通信、衛星通信、電子對抗、、遙感、遙測等系統生物醫學、 電磁兼容等各領域在研發、生產和使用微波介質材料時都需要測試其電磁特性參數，AV-40G型微波介質材料電磁特性參數測試系統是一款設計采用傳輸反射法進行寬頻帶掃頻測量，主要設備包括矢量網絡分析儀、測試電纜、測試夾具和自動測量軟件，系統用于測量固體介質材料的介電常數、磁導率，以及電、磁損耗角正切等性能參數。AV-40G型微波介質材料電磁特性參數測試系統目前在國內各大高等院校和科研院所中廣泛使用。

二、產品主要應用方面：

1、航空航天、微波通信、衛星通信、

2、隱身技術、電子對抗、導航、

3、遙感、遙測等

4、統生物醫學、 電磁兼容

三、產品主要特點：

1、精確測量功能: 可快速、精確地測量被測件S參數的幅度、相位和群延遲特性，并根據誤差模型修正測量結果；

2、相位修正功能: 反射系數和傳輸系數計算材料的復介電常數、復磁導率，及電、磁損耗角正切等性能參數；

3、電磁參數顯示功能; 二維坐標系顯示復介電常數、復磁導率，及電、磁損耗角正切等參數；

四、主要技術:

工作頻率范圍: 0.5GHz～40GHz

主機頻率分辨率: 1Hz

主機頻率準確度: ±1ppm（23ºC±3 ºC）

具體測量方式：同軸空氣N測量或Ku波段波導腔測量可選

測量方式：傳輸反射法

測量點數: ≤1601

工作方式: 掃頻測量

測量重復性: 優于±0.5Db

測量參數：介電常數實部、虛部，磁導率實部、虛部，電、磁損耗角正切

測量波段：S參數的幅度、相位和群延遲特性

相位修正：二端口網絡端面與校準面關系

系統控制：計算機控制，1、2、5、10、15倍