天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷美國B＆W Tek光譜儀-Exemplar Plus LS系列
品牌介紹：
B＆W Tek成立于1997年，總部位于美國，是二極管激光器和二極管泵浦固態（DPSS）激光器的定制解決方案的生產商，已發展成為一家擁有光子激光器，光譜儀和化學計量學技術的 公司，主要生產光譜學和激光儀器。我們的業務涵蓋移動光譜解決方案，包括全系列的便攜式拉曼和手持式拉曼系統，面向系統集成商的構件光譜儀和激光組件以及針對目標應用需求的定制解決方案。在工程，制造，生產和應用程序開發方面的能力可滿足定制傳感器，醫學診斷，原材料分析等方面特定于應用程序的需求。

產品范圍：
美國B＆W Tek光譜儀、激光器、二極管激光器、激光儀器。

美國B＆W Tek光譜儀-Exemplar Plus LS系列

應用：
生物醫學、化學、安全和保障、醫療設備、研究和教育

相關產品介紹：
Exemplar Plus LS是一款高性能智能光譜儀，利用像差校正凹面全息光柵來很大程度地減少雜散光。其長焦距加上高量子效率檢測器，可在整個190-1100nm光譜范圍內提供 的數據質量。Exemplar Plus LS具有高信噪比，使其非常適合弱光應用，還具有內置快門，即使在照明條件下也可以進行暗掃描測量。作為Exemplar產品系列的成員，它具有板載數據處理和USB 3.0通信功能。Exemplar產品線還針對具有超低觸發延遲和柵極抖動的多通道操作進行了優化。
標準光譜配置范圍為180nm-1050nm，分辨率范圍為0.6nm至6.0nm。自定義配置可用于OEM應用程序。
特征：
-車載處理，包括平均，平滑和暗補償
-每秒以6.3ms的積分時間采集和傳輸140多個光譜
-支持多達32個具有超低觸發延遲（95ns）和柵極抖動（+/- 20ns）的設備
技術指標：
-電源輸入：5V DC @ 3.0A（max啟動時）
-器類型：背面薄型CCD陣列
-波長范圍：190nm-1100nm
-檢測器像素格式：2048個有效檢測器元件
-有效像素大小：14微米x?0.9毫米
-光譜儀f /＃：3.0
-光譜儀光學布局：凹面全息，像差校正，平場
-動態范圍：50,000（典型值）
-數字化儀分辨率：16位或65,535：1
-資料傳輸速度：突發模式下積分時間為6.3ms時每秒> 140光譜
-觸發延遲：95ns +/- 20ns（要求時序圖）
-讀出速度：> 400kHz
-整合時間：6.3ms，以1μs為增量可調
-輔助端口：外部觸發，4個數字輸出（2個帶快門控制），2個數字輸入，模擬輸入，模擬輸出和系統復位
-工作溫度：5°C-35°C
-工作相對濕度：85％無冷凝
-CCD散熱：默認值：環境溫度為25oC時為0oC。
-重量：2.6磅
-尺寸圖：7.0英寸x 4.25英寸x 2.68英寸（178毫米x 108毫米x 67毫米）
-電腦介面：USB 3.0 / 2.0
-操作系統：Windows：7、8（32位和64位）
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