美國博曼（Bowman） BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀

產品描述：

美國博曼（Bowman） BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

Bowman BA-100 Optics 機型采用的多孔毛細管光學聚焦裝置，有效縮小測量點斑點的同時，可數倍乃至數十倍提高X射線激發強度。

Bowman BA-100 Optics 機型配備大面積的SDD（硅漂移探測器），有效拓展元素分析范圍，適應嚴格的微區、超薄鍍層，以及痕量元素分析需求。

優秀的測試性能、突出的微區測量能力，Bowman BA-100 Optics機型是研究開發、質量管控的XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。

穩定的X射線管

       ?  微聚焦50瓦Mo靶射線管（其它靶材可選）; 小

         于100um的測量斑點

       ?  射線出射點預置于射線管Be窗正*

       ?  長壽命的射線管燈絲

       ?  *的預熱和ISO溫度適應程序

多毛細管聚焦光學結構

       ?  顯著提高X射線信號強度

       ?  獲得較準直器機型數倍乃至數十倍的信號強度

       ?  小于100um直徑的測量斑點

       ?  經過驗證，接近完美的測量精度

應用領域：

常見的鍍層應用: 

PCB行業 
Au/Pd/Ni/Cu/PCB 

引線框架 
Ag/Cu 
Au/Pd/Ni/CuFe 

半導體行業 
Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材 
Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材 

線材 
Sn/Cu 

珠寶、貴金屬 
10,14,18Kt 

元素分析、合金分類、雜質分析、溶液分析、電鍍液分析等