X 射線熒光光譜 (XRF) 能夠對多種材料進行元素分析，包括固體、液體和疏松粉末。 Zetium 光譜儀專為滿足要求嚴苛的流程控制和研發應用需求而設計，其高品質的設計和創新功能居于市場地位，可對從鈹到镅等多種元素進行精度范圍從百萬分之一以下到百分之一的分析。
憑借我們多年的豐富經驗以及利用具有廣泛分析功能的 X 射線產品組合取得的成功，Zetium 推動材料分析的發展邁出了革命性的一步。 該平臺包含了 SumXcore 技術，它是 WDXRF、EDXRF 和 XRD 的集成。 這種*的功能組合使 Zetium 在多種環境下擁有的分析能力、速度和任務靈活性。
Zetium 配備了我們版本的 SuperQ 軟件（包括 Virtual Analyst），可幫助非專家用戶輕松地設置應用程序。 針對特定分析提供了廣泛的附加軟件模塊，例如無標分析、地質痕量元素、潤滑油中的基體校正以及薄膜分析。
針對特定行業提供了 Zetium XRF 光譜儀行業版：水泥、礦物、金屬、石化產品以及聚合物和塑料。 版配置可在任何行業內滿足嚴苛的要求。 Zetium 平臺的模塊化設計允許通過各種軟件包來實現以任務為導向的性能增強。 馬爾文帕納科提供了一系列集成解決方案；從連接樣品制備裝置的簡單接口，到將多個分析儀器集成到單一容器實驗室中的全自動項目。
增強的分析性能
· 從 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升級可增強靈敏度
· 一系列 X 射線光管陽極材料（銠、鉻、鉬和金）可確保發揮特定應用性能
· 用于增強靈敏度和加大過渡金屬分析動態范圍的復合探測器
· 用于擴大的重元素動態范圍（線性高達 3.5 Mcps）的 HiPer 閃爍探測器特別適合對鋼中的鈮和鉬進行高精度分析
· 可使用 THETA 核依次執行游離氧化鈣和 XRF 分析
出色的用戶體驗
· Virtual Analyst 提供簡潔、直觀的軟件
· 整套應用程序設置模塊和軟件解決方案
· 使用 Omnian 執行行業的無標 XRF 分析，對未知材料進行分析，或者在沒有標準的情況下進行分析
· 多元素微小區域分析
· 可編程的面罩，適合的樣品尺寸為 6 mm 至 37 mm
大化樣品處理量
· SumXcore 技術 - 利用 ED core（能譜核）將測量時間縮短多達 50%
· 從 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升級可加快分析速度
· Hi-Per 通道可實現對輕元素的同步測量
· 連續和直接進樣可大大縮短儀器的進樣時間
· 高容量進樣器臺（多 209 位）可滿足高處理量應用需求
· 進樣器條形碼閱讀器選項可實現快速、*的樣品裝載和數據錄入
可靠性
· 除塵設備可盡量減少污染，并能夠大化儀器的正常運行時間
· 用于提高 X 射線管耐用性和耐腐蝕性的 CHI-BLUE X 射線管窗涂層
· 樣品類型識別（固體和液體）
· 條形碼閱讀器可實現無差錯的樣品數據錄入
儀器的擁有成本低
· 節省空間的緊湊型設計
· 小體積空氣鎖設計 - 用于將樣品快速循環到真空中，或對液體分析實現低氦氣消耗
· 便于檢修的服務模塊意味著更高的儀器可維修性和短的停機時間
· 制冷機可從實驗室帶走熱量 - 避免實驗室空調基礎設施負荷過重
· 可節省成本的成套解決方案
