NICOLET IN10系列傅立葉顯微紅外光譜儀 Nicolet iN10系列傅立葉變換顯微紅外光譜儀是賽默飛世爾科技2009年推出的又一項榮獲2009年世界R&D 100大獎的創新技術。Nicolet iN10系列傅立葉變換顯微紅外光譜儀突破傳統理念,采用的全新高度集成化一體式設計,無需與FTIR主機儀聯接。運用多項技術,融合豐富的研制生產FT-IR的經驗,構成了性能指標超群、配置靈活、操作簡便,用戶可以自行維護的新一代傅里葉變換顯微紅外光譜儀,將FT-IR技術推到了的嶄新境界,使顯微紅外光譜分析更為精準快捷。
NICOLET IN10系列傅立葉顯微紅外光譜儀
性能*的光學設計
1.全新VectraTM干涉儀
世界上臺*采用DSP(數字信號處理器)控制的高精度磁浮式麥克爾遜干涉儀,具有三維激光控制全自動調整和每秒13萬次高速掃描動態準直功能,保證*檢測的高穩定性和準確性,無光譜偏離和失真,是目前傅立葉紅外光譜儀主要部件的技術。
2.Ever-Glo光源
繼傳統的空冷光源和陶瓷硅炭棒水冷光源之后的新一代高能量中遠紅外光源,在可靠性、穩定性和使用壽命方面均有重大突破。精確定位,用戶可自行更換。
3.光路系統
光學設計,密封干燥,光路系統濕度指示,干燥劑易于更換,可選擇吹掃系統。
4.光闌
高保真全域透視光闌,自動化控制獨立照明,提供高質量的觀察和采集定位區域。
5.物鏡和聚焦鏡
高通量數字光圈(N.A. )0.7,光通量大,靈敏度高,超微聚焦,帶有吹掃功能。
6.外光路接口
右側外光路連接,與Nicolet iZ10紅外輔助光學臺連接,可拓展各種紅外光譜檢測應用。
簡便直觀的自動化操作
1.自動照明、聚焦
自動控制反射和透射電子照明,光闌獨立照明,高清晰增強識別,視場范圍寬廣。軟件虛擬操縱桿控制的自動平臺、自動聚焦定位。
2.采樣方式自動切換
透射、反射光路自動切換,大化光學效率,不同采樣模式下提供靈敏度。
3.自動記憶背景和樣品位
軟件激活記憶功能,無需關注背景點,避免反復操作,節省時間,使操作者能專注于檢測分析任務。
4.自動可見偏振調節 軟件控制偏振片的插入、彈出及360 度方向旋轉。
5.自動彈出式載物臺 自動降低載物臺,向外移動,方便安裝樣品并自動復位。
靈活多變的配置方式
1.顯微衰減全反射(ATR)檢測系統
多層復合Ge晶體優化設計,光通量 > 50%;具有*空間分辨率。自動設置壓力,可做面掃描,也可手動設壓力;內置壓力提醒,無需外接壓力控制設備。數字化顯示壓力,確保得到檢測結果;“停止”和“釋放”按鍵,確保安全操作。
2.三檢測器配置
可同時配置三個檢測器,軟件自動切換。
a.高效光學設計允許使用室溫檢測器,無需液氮冷卻,光譜范圍可到 450 cm-1。
b.高靈敏度高穩定性無冰霜設計的MCT檢測器,在很小的光闌條件下,幾秒鐘就可得到高質量譜圖。液氮可保持18小時長時間穩定工作;超快速掃描速度10步/秒(16cm-1 分辨率)。
c.可升級高效的陣列成像檢測器,設計的漸暈控制鍍金光路-均勻照射,每個像素單元感受到同等強度的紅外光強,無偏差。超快速成像,采集速度達160張/秒,超高的空間分辨率。
3.可配備iZ10輔助光學臺聯機 “顯微鏡驅動” 紅外光譜儀 ,拓展各種紅外應用。
4.高分辨雙屏顯示 開拓新的視覺觀察效果,使測試點更加準確清晰。
便捷的OMNIC Picta軟件
1.簡易的操作
同步觀察、光譜預覽、實時檢索識別,了解樣品信息,確定樣品采集的位置。
2.線/面掃描測量
離散點,截面或區域面掃描的透射或反射測量,能自動記憶和測量背景掃描位置。
3.顆粒物分析向導
測量顆粒尺寸,設置匹配光闌,采集背景和光譜。自動提供物質的鑒別、尺寸分布比例和化學成像圖。
4.多層材料分析向導
線掃描結果分析,識別每層的物質并且計算厚度,通過化學成像圖提供多層膜或油漆殘片等的厚度和物質信息,并可通過視頻圖像和化學圖像相互驗證。
5.包埋物分析向導
消除包埋材料的光譜影響,簡化或無需處理樣品,降低檢測操作技能的要求。
6.混合物分析
從面掃描光譜中提取不同化學成像圖,提供檢測區域內多個組分的分布信息,顯示每個組分的信息,總面積和分布情況;使操作者快速掌握化學成像分析功能。
*的混合物光譜分離軟件-OMNIC Specta
提供混合物光譜分離鑒別、搜索的突破性新技術,解決了目前紅外光譜分析中解讀混合物光譜難題,實現一鍵式疊譜解析,同時可連網檢索組分化學結構,并給出不同組分相對含量信息。提供全程多媒體教學,操作無需專業化經驗。
性能參數
1.光譜范圍
7600-450cm-1(顯微的高性能DTGS檢測器,KBr分束器) ;7800-600cm-1(高靈敏度MCT單點檢測器、KBr分束器);7800-700cm-1(高靈敏度MCT陣列檢測器、KBr分束器)
2.光譜分辨率 優于 0.4cm-1
3.靈敏度
單點檢測器:信噪比:優于25000:1(100μm,2分鐘掃描,4cm-1分辨率)
陣列檢測器:信噪比: 25μm(像素單元25μm),4次掃描,16cm-1分辨率,優于500:1
10μm(像素單元6.25μm),4次掃描,16cm-1分辨率,優于160:1