測量顯微鏡 15J
是光學計量儀器之一種，15J測量顯微鏡的結構簡單，操作方便，適用范圍極廣
一、用途：測量顯微鏡 15J
15J測量顯微鏡是光學計量儀器之一種，15J測量顯微鏡的結構簡單，操作方便，適用范圍極廣，主要用途如下：
1.直角座標中測定長度，例如測定孔距，基面距離，刻線距離，刻線寬度，鍵槽寬度，狹縫寬度，通孔圓直徑等等。
2.轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規，鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。
3.用作觀察顯微鏡，以比較檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等.
二、規格：測量顯微鏡 15J
物 鏡 | 目 鏡 | 顯微鏡 放大倍數 | 工作距 離(mm) | 視場直 徑(mm) | ||
放大倍數 | 焦距(mm) | 放大倍數 | 焦距(mm) | |||
2.5X | 43.40 | 10X | 25.00 | 25X | 58.84 | 5.6 |
10X | 17.13 | 100X | 7.81 | 1.4 | ||
三、測量工作臺讀數裝置主要規格
x軸移動測量范圍： 50毫米
y軸移動測量范圍： 13毫米
測微器分度值： 0.01毫米
測量臺刻度盤分度范圍：0°- 360°
測量臺刻度盤之分度值：1°
測量臺刻度盤游標讀數示值： 6'
照明方式：反射光(自然光)
測量精度：儀器值誤差(5+L/15)微米
